致谢 | 第6-7页 |
摘要 | 第7-8页 |
abstract | 第8-9页 |
1 绪论 | 第13-25页 |
1.1 课题背景及研究目的和意义 | 第13-14页 |
1.2 工程电介质的极化、介电及储能 | 第14-16页 |
1.3 工程电介质的击穿 | 第16-17页 |
1.4 聚酰亚胺基复合薄膜的研究现状 | 第17-21页 |
1.4.1 聚酰亚胺简介 | 第17页 |
1.4.2 聚酰亚胺的合成 | 第17-19页 |
1.4.3 聚酰亚胺的性能 | 第19-20页 |
1.4.4 聚酰亚胺绝缘复合薄膜的研究现状 | 第20-21页 |
1.5 聚偏氟乙烯复合薄膜的研究现状 | 第21-23页 |
1.5.1 聚偏氟乙烯简介 | 第21-22页 |
1.5.2 聚偏氟乙烯基聚合物的合成 | 第22-23页 |
1.5.3 聚偏氟乙烯的性能 | 第23页 |
1.5.4 聚偏氟乙烯介电复合薄膜的研究现状 | 第23页 |
1.6 课题来源及研究内容 | 第23-25页 |
1.6.1 课题来源 | 第23-24页 |
1.6.2 研究内容 | 第24-25页 |
2 实验部分 | 第25-34页 |
2.1 实验原料与仪器 | 第25-26页 |
2.1.1 实验原料 | 第25页 |
2.1.2 实验仪器 | 第25-26页 |
2.2 结构表征方法 | 第26-27页 |
2.2.1 透射电子显微镜(TEM) | 第26页 |
2.2.2 扫描电子显微镜(SEM) | 第26页 |
2.2.3 傅里叶变换红外光谱分析(FTIR) | 第26页 |
2.2.4 X射线衍射分析(XRD) | 第26页 |
2.2.5 小角X射线散射分析(SAXS) | 第26-27页 |
2.3 性能表征方法 | 第27-30页 |
2.3.1 力学性能表征 | 第27-28页 |
2.3.2 绝缘性能表征 | 第28-29页 |
2.3.3 介电性能表征 | 第29页 |
2.3.4 储能性能表征 | 第29-30页 |
2.4 二维碳化钛纳米片的制备 | 第30-31页 |
2.4.1 实验原料与仪器 | 第30页 |
2.4.2 二维纳米碳化钛的制备流程 | 第30-31页 |
2.5 PI/TiC复合薄膜的制备 | 第31-32页 |
2.5.1 实验原料与仪器 | 第31页 |
2.5.2 PI/TiC复合薄膜的制备流程 | 第31-32页 |
2.6 PVDF/TiC复合薄膜的制备 | 第32-33页 |
2.6.1 实验原料与仪器 | 第32页 |
2.6.2 PVDF/TiC复合薄膜的制备流程 | 第32-33页 |
2.7 本章小结 | 第33-34页 |
3 PI/TiC复合薄膜微结构及性能表征 | 第34-50页 |
3.1 PI/TiC复合薄膜结构表征 | 第34-40页 |
3.1.1 PI/TiC复合薄膜扫描电镜(SEM) | 第34-36页 |
3.1.2 PI/TiC复合薄膜傅里叶变换红外光谱(FTIR) | 第36页 |
3.1.3 PI/TiC复合薄膜X射线衍射图谱(XRD) | 第36-37页 |
3.1.4 PI/TiC复合薄膜小角X射线散射图谱(SAXS) | 第37-40页 |
3.2 PI/TiC复合薄膜性能表征 | 第40-49页 |
3.2.1 PI/TiC复合薄膜力学拉伸测试 | 第40-42页 |
3.2.2 PI/TiC复合薄膜绝缘性能测试 | 第42-44页 |
3.2.3 PI/TiC复合薄膜介电性能测试 | 第44-47页 |
3.2.4 PI/TiC复合薄膜储能密度 | 第47-49页 |
3.3 本章小结 | 第49-50页 |
4 PVDF/TiC复合薄膜微结构及性能表征 | 第50-57页 |
4.1 PVDF/TiC复合薄膜结构表征 | 第50-52页 |
4.1.1 PVDF/TiC复合薄膜扫描电镜(SEM) | 第50-51页 |
4.1.2 PVDF/TiC复合薄膜傅里叶变换红外光谱(FTIR) | 第51页 |
4.1.3 PVDF/TiC复合薄膜X射线衍射图谱(XRD) | 第51-52页 |
4.2 PVDF/TiC复合薄膜性能表征 | 第52-56页 |
4.2.1 PVDF/TiC复合薄膜介电性能测试 | 第52-55页 |
4.2.2 PVDF/TiC复合薄膜储能密度 | 第55-56页 |
4.3 本章小结 | 第56-57页 |
5 结论 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-62页 |
作者简历 | 第62-64页 |
学位论文数据集 | 第64页 |