摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
引言 | 第9-10页 |
1 β-FeSi_2材料综述 | 第10-17页 |
·β-FeSi_2的晶体结构 | 第10-11页 |
·β-FeSi_2的光电与热电性能 | 第11-13页 |
·光电性能 | 第11-12页 |
·热电性能 | 第12-13页 |
·β-FeSi_2的制备 | 第13-14页 |
·β-FeSi_2的掺杂 | 第14页 |
·非晶FeSi_2 | 第14-15页 |
·本课题意义 | 第15-17页 |
2 (Fe,M)Si_2三元合金的成分设计、制备及分析方法 | 第17-29页 |
·成分设计 | 第17-18页 |
·样品制备 | 第18-23页 |
·合金棒 | 第18-19页 |
·合金薄带 | 第19-21页 |
·薄膜样品 | 第21-23页 |
·样品表征 | 第23-29页 |
·X射线衍射仪(XRD) | 第23页 |
·电子探针(EPMA) | 第23-24页 |
·扫描电子显微镜(SEM) | 第24-25页 |
·透射电子显微镜(TEM) | 第25页 |
·四探针测试仪 | 第25-26页 |
·霍尔效应 | 第26-27页 |
·吸收光谱 | 第27-29页 |
3 合金棒样品的分析 | 第29-36页 |
·XRD分析 | 第29-31页 |
·SEM分析 | 第31-33页 |
·能谱分析 | 第33-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
4 合金薄带样品的分析 | 第36-42页 |
·XRD分析 | 第36-37页 |
·TEM分析 | 第37-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
5 薄膜样品分析 | 第42-58页 |
·EPMA分析 | 第42-43页 |
·XRD分析 | 第43-45页 |
·TEM分析 | 第45-47页 |
·四探针分析 | 第47-49页 |
·Hall效应检测 | 第49-52页 |
·光学性质检测 | 第52-54页 |
·带隙检测 | 第54-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
结论 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-64页 |
攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-67页 |