摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 前言 | 第15-17页 |
第二章 绪论 | 第17-49页 |
2.1 热电转换基本原理 | 第17-20页 |
2.2 导电聚合物概述 | 第20-24页 |
2.2.1 导电聚合物的发展 | 第20-23页 |
2.2.2 导电聚合物的掺杂导电机理 | 第23-24页 |
2.3 PEDOT基热电材料概述 | 第24-47页 |
2.3.1 PEDOT的发展史及其结构特点 | 第24-26页 |
2.3.2 PEDOT:PSS基热电材料概述 | 第26-31页 |
2.3.3 S-PEDOT基热电材料概述 | 第31-40页 |
2.3.4 PEDOT基热电复合材料的制备工艺的发展 | 第40-43页 |
2.3.5 PEDOT基热电材料的热电性能总结 | 第43-47页 |
2.4 本文的选题依据及研究内容 | 第47-49页 |
第三章 弱碱性阴离子掺杂PEDOT的自抑制合成及还原优化 | 第49-81页 |
3.1 引言 | 第49-50页 |
3.2 铁盐的筛选和PEDOT的合成 | 第50-55页 |
3.2.1 实验原料 | 第50页 |
3.2.2 实验装置 | 第50-51页 |
3.2.3 铁盐氧化剂的制备 | 第51-54页 |
3.2.4 自抑制合成法(SIP)的反应步骤 | 第54页 |
3.2.5 传统合成方法(对照组)的反应步骤 | 第54-55页 |
3.2.6 结构表征和性能测试 | 第55页 |
3.3 传统合成方法与自抑制合成方法薄膜形貌和性能对比 | 第55-64页 |
3.3.1 薄膜的微观形貌对比 | 第55-56页 |
3.3.2 薄膜组分对比 | 第56-58页 |
3.3.3 膜厚与热电性能对比 | 第58-62页 |
3.3.4 膜厚对电导率的影响对比 | 第62-63页 |
3.3.5 小结 | 第63-64页 |
3.4 自抑制合成法的工艺参数调整 | 第64-68页 |
3.4.1 温度对反应速率以及PEDOT电导率的影响 | 第64页 |
3.4.2 反应介质对PEDOT电导率的影响 | 第64-65页 |
3.4.3 游离酸对反应速率的影响 | 第65-66页 |
3.4.4 溶液法(SC)的反应条件与产物性能 | 第66-68页 |
3.5 自抑制聚合法在其他工艺的应用 | 第68-72页 |
3.5.1 静电纺丝 | 第68-71页 |
3.5.2 块体材料制备 | 第71-72页 |
3.6 通过还原方法优化PEDOT:DBSA的功率因子 | 第72-79页 |
3.6.1 前期尝试 | 第72-75页 |
3.6.2 采用酸化的水合肼进行可控还原 | 第75-76页 |
3.6.3 采用酸化的苯肼进行可控还原 | 第76-77页 |
3.6.4 不同还原程度载流子类型变化 | 第77-79页 |
3.7 薄膜功率输出计算 | 第79-80页 |
3.8 本章小结 | 第80-81页 |
第四章 阴离子对S-PEDOT结构和性能的影响机理研究 | 第81-93页 |
4.1 引言 | 第81页 |
4.2 样品制备与测试手段 | 第81-82页 |
4.3 阴离子(作为铁盐配离子)对S-PEDOT聚合速率和链段结构的影响 | 第82-88页 |
4.3.1 阴离子的碱性对反应速度的影响 | 第82-85页 |
4.3.2 反应速度对掺杂量和链段结构的影响 | 第85-88页 |
4.4 阴离子(作为掺杂离子)对S-PEDOT链段结构的影响 | 第88-91页 |
4.4.1 掺杂离子的碱性对PEDOT链段结构的影响 | 第88-89页 |
4.4.2 掺杂离子的空间位阻对PEDOT结构的影响 | 第89-91页 |
4.5 本章小结 | 第91-93页 |
第五章 PEDOT-Te纳米粒子复合薄膜的同步生成及性能优化 | 第93-123页 |
5.1 引言 | 第93-94页 |
5.2 样品的制备和表征 | 第94-95页 |
5.2.1 实验原料 | 第94页 |
5.2.2 PEDOT:Cl-Te复合薄膜的制备(前期研究) | 第94页 |
5.2.3 PEDOT:DBSA/Cl-Te复合薄膜的制备 | 第94-95页 |
5.2.4 结构表征和性能测试 | 第95页 |
5.3 PEDOT:Cl-Te复合薄膜的结构与性能表征(前期研究) | 第95-103页 |
5.3.1 薄膜结构与组成测定以及反应机理探讨 | 第95-97页 |
5.3.2 薄膜表面形貌 | 第97-99页 |
5.3.3 添加剂和聚合温度对薄膜性能的影响 | 第99-101页 |
5.3.4 其他尝试 | 第101-103页 |
5.4 自抑制法制备PEDOT:DBSA/Cl-Te复合薄膜 | 第103-120页 |
5.4.1 反应机理探讨 | 第103-104页 |
5.4.2 薄膜的表面形貌 | 第104-107页 |
5.4.3 薄膜Te含量测定 | 第107-111页 |
5.4.4 Te和PEDOT基体的结晶性 | 第111-112页 |
5.4.5 薄膜的热电性能 | 第112-115页 |
5.4.6 PEDOT-Te薄膜的掺杂程度 | 第115-118页 |
5.4.7 Te纳米粒子(量子点)的氧化态分析 | 第118-120页 |
5.4.8 Te量子点的声子散射机制 | 第120页 |
5.5 本章小结 | 第120-123页 |
第六章 结论与展望 | 第123-125页 |
参考文献 | 第125-145页 |
致谢 | 第145-147页 |
作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第147-148页 |