基于PLC技术的数控组织芯片仪的设计与实现
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 项目背景及意义 | 第10-12页 |
1.2 国内外发展现状 | 第12-13页 |
1.3 设计需求 | 第13-14页 |
1.4 论文的主要内容安排 | 第14-15页 |
1.5 本章小结 | 第15-16页 |
第二章 组织芯片简介 | 第16-25页 |
2.1 组织芯片技术概述 | 第16-17页 |
2.2 组织芯片制作过程 | 第17-24页 |
2.2.1 传统方法 | 第17-20页 |
2.2.2 本文采用的方法 | 第20-24页 |
2.3 组织芯片蜡块制备仪器工作流程 | 第24页 |
2.4 本章小结 | 第24-25页 |
第三章 数控组织芯片仪设计 | 第25-34页 |
3.1 PLC系统的控制技术 | 第25-27页 |
3.1.1 PLC系统的基本组成 | 第25-26页 |
3.1.2 PLC系统的工作原理 | 第26页 |
3.1.3 PLC系统与其它典型控制系统的区别 | 第26-27页 |
3.2 数控组织芯片仪的主要活动部件 | 第27-29页 |
3.3 数控组织芯片仪的主要设计思路 | 第29-33页 |
3.3.1 动力控制的改进 | 第29-30页 |
3.3.2 技术路线和实施方案 | 第30-32页 |
3.3.3 数控组织芯片仪的电路设计规划 | 第32-33页 |
3.4 本章小结 | 第33-34页 |
第四章 技术细节与程序设计 | 第34-51页 |
4.1 组织芯片仪技术细节 | 第34页 |
4.2 触摸屏 | 第34-37页 |
4.2.1 触摸屏的设计 | 第35页 |
4.2.2 触摸屏的界面 | 第35-37页 |
4.3 PLC系统的程序设计 | 第37-47页 |
4.3.1 编程语言简介及梯形图 | 第38-42页 |
4.3.2 关键点及程序设计 | 第42-47页 |
4.4 定位模块的程序设定 | 第47-50页 |
4.5 本章小结 | 第50-51页 |
第五章 实现及测试 | 第51-64页 |
5.1 设备的实现 | 第51-52页 |
5.2 测试目的及环境 | 第52页 |
5.3 测试工具及思路 | 第52-53页 |
5.4 测试过程 | 第53-60页 |
5.4.1 程序写入 | 第53页 |
5.4.2 步进电机的测试 | 第53-56页 |
5.4.3 电磁铁的测试 | 第56页 |
5.4.4 设备的复位 | 第56-57页 |
5.4.5 各机构的调试 | 第57-58页 |
5.4.6 自动程序的调试 | 第58-59页 |
5.4.7 自动程序的运行测试 | 第59-60页 |
5.5 实际使用的测试 | 第60-63页 |
5.5.1 前期准备 | 第60页 |
5.5.2 机器植芯 | 第60-62页 |
5.5.3 后期完成 | 第62-63页 |
5.6 本章小结 | 第63-64页 |
第六章 总结与今后目标 | 第64-65页 |
6.1 总结 | 第64页 |
6.2 今后目标 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-69页 |
附录:数控组织芯片仪梯形图 | 第69-78页 |
作者在学期间取得的与学位论文相关的研究成果 | 第78-79页 |