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基于PLC技术的数控组织芯片仪的设计与实现

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第一章 绪论第10-16页
    1.1 项目背景及意义第10-12页
    1.2 国内外发展现状第12-13页
    1.3 设计需求第13-14页
    1.4 论文的主要内容安排第14-15页
    1.5 本章小结第15-16页
第二章 组织芯片简介第16-25页
    2.1 组织芯片技术概述第16-17页
    2.2 组织芯片制作过程第17-24页
        2.2.1 传统方法第17-20页
        2.2.2 本文采用的方法第20-24页
    2.3 组织芯片蜡块制备仪器工作流程第24页
    2.4 本章小结第24-25页
第三章 数控组织芯片仪设计第25-34页
    3.1 PLC系统的控制技术第25-27页
        3.1.1 PLC系统的基本组成第25-26页
        3.1.2 PLC系统的工作原理第26页
        3.1.3 PLC系统与其它典型控制系统的区别第26-27页
    3.2 数控组织芯片仪的主要活动部件第27-29页
    3.3 数控组织芯片仪的主要设计思路第29-33页
        3.3.1 动力控制的改进第29-30页
        3.3.2 技术路线和实施方案第30-32页
        3.3.3 数控组织芯片仪的电路设计规划第32-33页
    3.4 本章小结第33-34页
第四章 技术细节与程序设计第34-51页
    4.1 组织芯片仪技术细节第34页
    4.2 触摸屏第34-37页
        4.2.1 触摸屏的设计第35页
        4.2.2 触摸屏的界面第35-37页
    4.3 PLC系统的程序设计第37-47页
        4.3.1 编程语言简介及梯形图第38-42页
        4.3.2 关键点及程序设计第42-47页
    4.4 定位模块的程序设定第47-50页
    4.5 本章小结第50-51页
第五章 实现及测试第51-64页
    5.1 设备的实现第51-52页
    5.2 测试目的及环境第52页
    5.3 测试工具及思路第52-53页
    5.4 测试过程第53-60页
        5.4.1 程序写入第53页
        5.4.2 步进电机的测试第53-56页
        5.4.3 电磁铁的测试第56页
        5.4.4 设备的复位第56-57页
        5.4.5 各机构的调试第57-58页
        5.4.6 自动程序的调试第58-59页
        5.4.7 自动程序的运行测试第59-60页
    5.5 实际使用的测试第60-63页
        5.5.1 前期准备第60页
        5.5.2 机器植芯第60-62页
        5.5.3 后期完成第62-63页
    5.6 本章小结第63-64页
第六章 总结与今后目标第64-65页
    6.1 总结第64页
    6.2 今后目标第64-65页
致谢第65-66页
参考文献第66-69页
附录:数控组织芯片仪梯形图第69-78页
作者在学期间取得的与学位论文相关的研究成果第78-79页

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