铁磁材料应力和缺陷的微磁检测定量化研究
摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
符号对照表 | 第15-17页 |
缩略语对照表 | 第17-21页 |
第一章 绪论 | 第21-61页 |
1.1 研究背景 | 第21-43页 |
1.1.1 损伤与灾难事故 | 第21-23页 |
1.1.2 无损检测 | 第23-26页 |
1.1.3 微磁检测 | 第26-29页 |
1.1.4 铁磁材料的力磁耦合性质 | 第29-38页 |
1.1.5 微磁检测信号的基本特征 | 第38-43页 |
1.2 研究现状 | 第43-59页 |
1.2.1 铁磁材料的本构模型 | 第43-50页 |
1.2.2 微磁检测的正演理论 | 第50-55页 |
1.2.3 缺陷定量化研究 | 第55-59页 |
1.3 论文框架 | 第59-61页 |
第二章 微磁检测的应力磁化本构关系 | 第61-87页 |
2.1 本构关系的建立 | 第61-69页 |
2.1.1 理想磁化的形式模型 | 第61-63页 |
2.1.2 理想磁化模型的确立 | 第63-66页 |
2.1.3 接近原理 | 第66-67页 |
2.1.4 求解方法 | 第67-69页 |
2.2 定量分析与讨论 | 第69-76页 |
2.2.1 应力磁化行为 | 第69-70页 |
2.2.2 磁致伸缩曲线 | 第70-71页 |
2.2.3 初始磁化的影响 | 第71-72页 |
2.2.4 循环加载情形 | 第72-74页 |
2.2.5 其他 | 第74-76页 |
2.3 三维本构关系的建立 | 第76-85页 |
2.3.1 本构关系的建立 | 第76-81页 |
2.3.2 特殊情形下的简化模型 | 第81-83页 |
2.3.3 定量分析与讨论 | 第83-85页 |
2.4 本章小结 | 第85-87页 |
第三章 微磁检测的正演分析 | 第87-127页 |
3.1 理论模型的建立 | 第87-100页 |
3.1.1 力学与磁学方程组 | 第88-90页 |
3.1.2 力磁耦合模型 | 第90-95页 |
3.1.3 有限元方法求解 | 第95-100页 |
3.2 理论模型的对比与验证 | 第100-108页 |
3.2.1 有限元方法的验证 | 第100-102页 |
3.2.2 无损伤情形的验证 | 第102-105页 |
3.2.3 含损伤情形的验证 | 第105-108页 |
3.3 定量分析与讨论 | 第108-115页 |
3.3.1 微磁信号特征参数 | 第108页 |
3.3.2 圆孔型缺陷情形 | 第108-112页 |
3.3.3 应力集中情形 | 第112-115页 |
3.4 正演分析的磁荷方法 | 第115-126页 |
3.4.1 理论模型的建立 | 第116-117页 |
3.4.2 应力集中区情形 | 第117-124页 |
3.4.3 裂纹缺陷情形 | 第124-126页 |
3.5 本章小结 | 第126-127页 |
第四章 微磁检测的缺陷反演方法 | 第127-149页 |
4.1 反问题描述 | 第127-130页 |
4.1.1 缺陷参数 | 第127-129页 |
4.1.2 目标函数 | 第129-130页 |
4.2 反演算法 | 第130-134页 |
4.2.1 梯度反演算法 | 第130-131页 |
4.2.2 共轭梯度重构算法 | 第131-132页 |
4.2.3 反演分析求解方法 | 第132-134页 |
4.3 定量分析与讨论 | 第134-139页 |
4.3.1 算法验证 | 第134-136页 |
4.3.2 反演分析 | 第136-139页 |
4.4 反演精度的影响因素 | 第139-148页 |
4.4.1 信号完备性 | 第139-141页 |
4.4.2 信号采样间隔 | 第141-143页 |
4.4.3 提离效应 | 第143-145页 |
4.4.4 应力集中程度 | 第145-146页 |
4.4.5 噪声影响 | 第146-148页 |
4.5 本章小结 | 第148-149页 |
第五章 微磁检测的动态效应 | 第149-165页 |
5.1 本构关系的建立 | 第149-152页 |
5.1.1 理想磁化模型 | 第149-150页 |
5.1.2 动态应力磁化关系 | 第150-151页 |
5.1.3 应力磁化模型求解 | 第151-152页 |
5.2 定量分析与讨论 | 第152-156页 |
5.2.1 动态应力磁化洄线 | 第152-154页 |
5.2.2 理想磁化曲线 | 第154-155页 |
5.2.3 动态应力磁化曲线 | 第155-156页 |
5.3 微磁检测的动态效应 | 第156-162页 |
5.3.1 理论方程 | 第156-157页 |
5.3.2 无缺陷情形的讨论 | 第157-160页 |
5.3.3 含缺陷情形的讨论 | 第160-162页 |
5.4 本章小结 | 第162-165页 |
第六章 总结和展望 | 第165-167页 |
参考文献 | 第167-181页 |
致谢 | 第181-183页 |
作者简介 | 第183-186页 |