大气痕量气体差分吸收光谱仪光谱图像数据校正方法研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-26页 |
| 1.1 引言 | 第12-13页 |
| 1.2 成像光谱仪技术发展及现状 | 第13-17页 |
| 1.3 EM工载荷总体设计方案 | 第17-24页 |
| 1.3.1 EMI载荷探测原理 | 第17-19页 |
| 1.3.2 EMI载荷组成结构 | 第19-22页 |
| 1.3.3 EMI系统技术指标 | 第22-24页 |
| 1.4 本文主要研究内容及意义 | 第24-26页 |
| 第2章 EMI载荷成像电子学 | 第26-58页 |
| 2.1 EM工载荷总体设计方案 | 第26-32页 |
| 2.1.1 CCD成像电子学方案 | 第26-29页 |
| 2.1.2 CCD成像驱动设计 | 第29-32页 |
| 2.2 CCD工作原理 | 第32-40页 |
| 2.2.1 光电转换 | 第32-33页 |
| 2.2.2 电荷存储 | 第33-35页 |
| 2.2.3 电荷转移 | 第35-37页 |
| 2.2.4 电荷检测 | 第37-39页 |
| 2.2.5 帧转移方式 | 第39-40页 |
| 2.3 帧转移CCD的特性 | 第40-47页 |
| 2.3.1 光电转换特性 | 第40-42页 |
| 2.3.2 暗电流特性 | 第42-43页 |
| 2.3.3 光谱响应特性 | 第43-47页 |
| 2.4 EMI载荷0-1b级数据处理 | 第47-58页 |
| 2.4.1 EMI载荷前向数据模型 | 第47-55页 |
| 2.4.2 EMI载荷0-1b级数据处理流程 | 第55-57页 |
| 2.4.3 光谱图像数据噪声抑制及校正 | 第57-58页 |
| 第3章 暗电流抑制及校正方法 | 第58-84页 |
| 3.1 CCD制冷系统设计与实现 | 第58-70页 |
| 3.1.1 CCD47-20热电制冷器 | 第58-61页 |
| 3.1.2 制冷控制方案 | 第61-62页 |
| 3.1.3 模拟PID控制及参数整定 | 第62-64页 |
| 3.1.4 Peltier驱动电路 | 第64-65页 |
| 3.1.5 试验结果及分析 | 第65-70页 |
| 3.2 暗电流温度校正方法 | 第70-74页 |
| 3.3 基于暗像元的像面暗电流校正方法 | 第74-76页 |
| 3.4 空间维暗电流校正方法 | 第76-84页 |
| 3.4.1 空间维暗电流不一致产生机理 | 第76-79页 |
| 3.4.2 空间维暗电流校正方法 | 第79-84页 |
| 第4章 smear效应校正方法 | 第84-90页 |
| 4.1 smear效应产生的机理 | 第84-85页 |
| 4.2 smear效应对光谱图像的影响分析 | 第85-88页 |
| 4.2.1 smear对CCD信噪比的影响 | 第87页 |
| 4.2.2 smear对光谱测量精度的影响 | 第87-88页 |
| 4.3 smear效应校正方法 | 第88-90页 |
| 第5章 像元响应非均匀性校正方法 | 第90-96页 |
| 5.1 像元响应非均匀性产生的原因 | 第90页 |
| 5.2 像元响应非均匀性对光谱图像的影响 | 第90页 |
| 5.3 像元响应非均匀性校正方法 | 第90-96页 |
| 第6章 EMI测量试验及校正对比 | 第96-108页 |
| 6.1 实验室样气测量试验 | 第96-104页 |
| 6.2 在轨数据反演对比 | 第104-108页 |
| 第7章 总结与展望 | 第108-110页 |
| 7.1 工作总结 | 第108-109页 |
| 7.2 展望 | 第109-110页 |
| 参考文献 | 第110-118页 |
| 致谢 | 第118-120页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第120页 |
