摘要 | 第3-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
第一章 文献综述 | 第9-25页 |
1.1 超临界流体概述 | 第9-10页 |
1.2 超临界流体微粒化技术 | 第10-17页 |
1.2.1 超临界溶液快速膨胀法 | 第11-12页 |
1.2.2 超临界流体抗溶剂法 | 第12-16页 |
1.2.3 气体饱和溶液微粒形成技术 | 第16-17页 |
1.2.4 超临界流体微乳液法 | 第17页 |
1.3 铈锆固溶体的研究 | 第17-24页 |
1.3.1 铈锆固溶体的结构特点 | 第17-18页 |
1.3.2 铈锆固溶体的制备方法 | 第18-21页 |
1.3.3 铈锆固溶体储放氧能力研究 | 第21-22页 |
1.3.4 掺杂其他元素的铈锆固溶体的研究 | 第22-23页 |
1.3.5 铈锆固溶体的应用 | 第23-24页 |
1.4 论文研究思路和主要内容 | 第24-25页 |
第二章 实验部分 | 第25-33页 |
2.1 实验原料和规格 | 第25页 |
2.2 实验装置 | 第25-27页 |
2.2.1 SAS 装置 | 第25-26页 |
2.2.2 相平衡装置 | 第26-27页 |
2.3 实验过程 | 第27-31页 |
2.3.1 乙酰丙酮铈/锆制备 | 第27-28页 |
2.3.2 SAS 法制备前驱体 | 第28-29页 |
2.3.3 浸渍法制备复合氧化物 | 第29-30页 |
2.3.4 相平衡测定MCP 线 | 第30-31页 |
2.4 表征方法 | 第31-33页 |
2.4.1 透射电镜表征(HRTEM) | 第31页 |
2.4.2 热重-质谱分析(TG-MS) | 第31-32页 |
2.4.3 比表面积测定(BET) | 第32页 |
2.4.4 原子发射光谱分析(ICP) | 第32页 |
2.4.5 X-射线衍射(XRD) | 第32页 |
2.4.6 程序升温还原(TPR) | 第32页 |
2.4.7 储氧性能测定(OSC) | 第32-33页 |
第三章 铜铈锆氧化物纳米颗粒的SAS 合成及表征 | 第33-48页 |
3.1 铜铈锆复合氧化物的制备 | 第33-34页 |
3.2 前驱体焙烧过程 | 第34-35页 |
3.3 Cu 组分的加入对铈锆复合氧化物结构和性能的影响 | 第35-42页 |
3.3.1 溶液中Cu 浓度对复合氧化物形貌结构的影响 | 第35-37页 |
3.3.2 不同Cu 浓度的抗溶剂效应 | 第37页 |
3.3.3 Cu 含量对复合氧化物晶体结构的影响 | 第37-39页 |
3.3.4 Cu 含量对复合氧化物储氧性能的影响 | 第39-40页 |
3.3.5 Cu 含量对复合氧化物还原性能的影响 | 第40-42页 |
3.3.6 Cu 含量对复合氧化物比表面积的影响 | 第42页 |
3.4 不同制备方法对铈锆复合氧化物的影响 | 第42-47页 |
3.4.1 不同制备方法对复合氧化物晶体结构的影响 | 第43-45页 |
3.4.2 不同制备方法对复合氧化物储氧性能的影响 | 第45-46页 |
3.4.3 不同制备方法对复合氧化物还原性能的影响 | 第46-47页 |
3.5 本章小结 | 第47-48页 |
第四章 铜铈锆氧化物中空结构的可控合成及性能研究 | 第48-61页 |
4.1 第三组分对MCP 线的影响 | 第48-50页 |
4.2 压力对CuO-Ce0_2-Zr0_2 复合氧化物中空结构及性能的影响 | 第50-54页 |
4.2.1 压力对CuO-Ce0_2-Zr0_2 颗粒形貌结构的影响 | 第50-52页 |
4.2.2 压力对CuO-Ce0_2-Zr0_2 复合氧化物还原性能的影响 | 第52-53页 |
4.2.3 压力对CuO-Ce0_2-Zr0_2 复合氧化物储氧性能的影响 | 第53-54页 |
4.2.4 压力对CuO-Ce0_2-Zr0_2 复合氧化物比表面的影响 | 第54页 |
4.3 温度对MCP 线的影响 | 第54-55页 |
4.4 温度对CuO-Ce0_2-Zr0_2 氧化物纳米颗粒中空结构及性能的影响 | 第55-59页 |
4.4.1 温度对CuO-Ce0_2-Zr0_2 颗粒形貌的影响 | 第56-57页 |
4.4.2 温度对CuO-Ce0_2-Zr0_2 复合氧化物还原性能的影响 | 第57-58页 |
4.4.3 温度对CuO-Ce0_2-Zr0_2 复合氧化物储氧性能的影响 | 第58页 |
4.4.4 温度对CuO-Ce0_2-Zr0_2 复合氧化物比表面积的影响 | 第58-59页 |
4.5 中空结构纳米球颗粒形成机理的讨论 | 第59-60页 |
4.6 本章小结 | 第60-61页 |
第五章 结论 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-67页 |
致谢 | 第67页 |