摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第9-16页 |
1.1 课题研究背景 | 第9页 |
1.2 课题研究的目的和意义 | 第9-10页 |
1.3 颗粒检测方法及研究现状 | 第10-14页 |
1.3.1 颗粒检测方法简介 | 第10-12页 |
1.3.2 颗粒检测国内外研究成果 | 第12-14页 |
1.4 主要研究内容 | 第14-16页 |
2 颗粒散射基本理论及Mie散射理论模型 | 第16-28页 |
2.1 颗粒粒度及粒度分布 | 第16-17页 |
2.1.1 单个颗粒的粒度 | 第16页 |
2.1.2 颗粒群的粒径分布 | 第16-17页 |
2.2 光散射概述 | 第17-19页 |
2.2.1 不相关散射与相关散射 | 第18页 |
2.2.2 单散射与复散射 | 第18-19页 |
2.3 Mie散射理论模型 | 第19-27页 |
2.3.1 Mie散射理论概述 | 第19-21页 |
2.3.2 单颗粒散射光强的空间分布 | 第21-22页 |
2.3.3 单颗粒散射光能的空间分布 | 第22-23页 |
2.3.4 粒子群的Mie散射光能空间分布 | 第23-24页 |
2.3.5 采光路径设计 | 第24-27页 |
2.4 光散射模型矩阵T | 第27页 |
2.5 本章小结 | 第27-28页 |
3 粒径反演算法研究 | 第28-38页 |
3.1 概述 | 第28页 |
3.2 第一类Fredholm积分方程性质 | 第28页 |
3.3 反演的数学描述 | 第28-29页 |
3.4 粒度分布模型及几种常见算法 | 第29-32页 |
3.4.1 非独立分布算法 | 第29-30页 |
3.4.2 独立分布算法 | 第30-32页 |
3.5 反演仿真测试 | 第32-37页 |
3.5.1 Philips-Twomey直接反演法 | 第32-35页 |
3.5.2 Chahine迭代反演法 | 第35-37页 |
3.5.3 粒度反演分析 | 第37页 |
3.6 本章小结 | 第37-38页 |
4 颗粒检测系统方案设计 | 第38-44页 |
4.1 检测系统组成与工作原理 | 第38-40页 |
4.1.1 检测系统组成 | 第38页 |
4.1.2 检测系统工作原理 | 第38-39页 |
4.1.3 数据采集处理与处理 | 第39-40页 |
4.2 检测系统中关键器件介绍 | 第40-43页 |
4.2.1 半导体激光器 | 第40页 |
4.2.2 图像传感器的选择 | 第40-42页 |
4.2.3 主芯片的选择 | 第42-43页 |
4.3 本章小结 | 第43-44页 |
5 颗粒检测系统硬件设计与实现 | 第44-51页 |
5.1 电源供电模块设计 | 第44-46页 |
5.1.1 输入电压12V直接降压9V,5V模块 | 第44-46页 |
5.1.2 输出由5V转3.3V、1.8V、1.4V电源转换模块 | 第46页 |
5.2 激光器控制电路 | 第46-47页 |
5.3 SAA7113H视频解码芯片 | 第47-48页 |
5.4 SDRAM存储芯片电路 | 第48-49页 |
5.5 CPLD扩展电路 | 第49-50页 |
5.6 通信模块电路 | 第50页 |
5.7 本章小结 | 第50-51页 |
6 颗粒检测系统软件设计与实现 | 第51-55页 |
6.1 软件开发环境简介 | 第51页 |
6.1.1 软件开发平台 | 第51页 |
6.1.2 DSP/BIOS | 第51页 |
6.2 DSP软件系统的设计 | 第51-54页 |
6.3 Matlab仿真到DSP算法实现 | 第54页 |
6.4 本章小结 | 第54-55页 |
7 结论与展望 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-60页 |
致谢 | 第60-62页 |