| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第7-14页 |
| 1.1 红外热成像系统发展概况 | 第7-9页 |
| 1.2 非均匀性校正技术发展概况 | 第9-11页 |
| 1.3 当前非均匀性校正算法的局限性 | 第11-13页 |
| 1.4 论文主要工作内容和结构安排 | 第13-14页 |
| 2 国产红外焦平面阵列成像系统分析 | 第14-29页 |
| 2.1 国产红外焦平面阵列探测器性能分析 | 第14-18页 |
| 2.1.1 GWIR 0302 X1A探测器简介 | 第14-16页 |
| 2.1.2 GWIR 0302 X1A探测器优缺点分析 | 第16-18页 |
| 2.2 国产红外焦平面成像系统硬件架构设计 | 第18-24页 |
| 2.3 国产红外焦平面成像系统图像处理算法设计 | 第24-28页 |
| 2.3.1 红外成像缺陷分析 | 第24-25页 |
| 2.3.2 红外图像处理算法硬件实现流程 | 第25-28页 |
| 2.4 本章小节 | 第28-29页 |
| 3 改进的基于校正字输入和挡片架构的定标算法 | 第29-43页 |
| 3.1 片上非均匀性校正技术简介 | 第29-30页 |
| 3.2 基于挡片定标非均匀性校正技术简介 | 第30-32页 |
| 3.3 改进的基于FLASH+SDRAM自适应片上非均匀性校正技术 | 第32-38页 |
| 3.4 改进的基于图像补偿的定标算法 | 第38-42页 |
| 3.5 本章小节 | 第42-43页 |
| 4 改进的基于全变分模型单帧非均匀性校正算法 | 第43-57页 |
| 4.1 基于场景单帧非均匀校正算法概述 | 第43-44页 |
| 4.2 全变分理论简介及在图像处理中的应用 | 第44-45页 |
| 4.3 改进的全变分模型校正红外图像条纹非均匀性 | 第45-47页 |
| 4.4 基于Split-Bregman法的模型最优化过程 | 第47-50页 |
| 4.5 基于CUDA+VS2010的GPU仿真平台 | 第50-52页 |
| 4.6 实验结果分析 | 第52-56页 |
| 4.6.1 仿真结果定性分析 | 第53-55页 |
| 4.6.2 仿真结果定量分析 | 第55-56页 |
| 4.7 本章小节 | 第56-57页 |
| 5 结论与展望 | 第57-58页 |
| 5.1 本文工作总结 | 第57页 |
| 5.2 研究展望 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 附录 | 第62页 |
