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基于国产红外焦平面阵列的非均匀性校正技术研究

摘要第3-4页
Abstract第4页
1 绪论第7-14页
    1.1 红外热成像系统发展概况第7-9页
    1.2 非均匀性校正技术发展概况第9-11页
    1.3 当前非均匀性校正算法的局限性第11-13页
    1.4 论文主要工作内容和结构安排第13-14页
2 国产红外焦平面阵列成像系统分析第14-29页
    2.1 国产红外焦平面阵列探测器性能分析第14-18页
        2.1.1 GWIR 0302 X1A探测器简介第14-16页
        2.1.2 GWIR 0302 X1A探测器优缺点分析第16-18页
    2.2 国产红外焦平面成像系统硬件架构设计第18-24页
    2.3 国产红外焦平面成像系统图像处理算法设计第24-28页
        2.3.1 红外成像缺陷分析第24-25页
        2.3.2 红外图像处理算法硬件实现流程第25-28页
    2.4 本章小节第28-29页
3 改进的基于校正字输入和挡片架构的定标算法第29-43页
    3.1 片上非均匀性校正技术简介第29-30页
    3.2 基于挡片定标非均匀性校正技术简介第30-32页
    3.3 改进的基于FLASH+SDRAM自适应片上非均匀性校正技术第32-38页
    3.4 改进的基于图像补偿的定标算法第38-42页
    3.5 本章小节第42-43页
4 改进的基于全变分模型单帧非均匀性校正算法第43-57页
    4.1 基于场景单帧非均匀校正算法概述第43-44页
    4.2 全变分理论简介及在图像处理中的应用第44-45页
    4.3 改进的全变分模型校正红外图像条纹非均匀性第45-47页
    4.4 基于Split-Bregman法的模型最优化过程第47-50页
    4.5 基于CUDA+VS2010的GPU仿真平台第50-52页
    4.6 实验结果分析第52-56页
        4.6.1 仿真结果定性分析第53-55页
        4.6.2 仿真结果定量分析第55-56页
    4.7 本章小节第56-57页
5 结论与展望第57-58页
    5.1 本文工作总结第57页
    5.2 研究展望第57-58页
致谢第58-59页
参考文献第59-62页
附录第62页

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