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硅中裂纹扩展的分子模拟

摘要第5-7页
abstract第7-8页
第1章 绪论第11-18页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第11-12页
    1.2 硅基锂离子电池负极材料第12页
    1.3 宏微观断裂理论第12-15页
        1.3.1 断裂的分类第13-14页
        1.3.2 裂纹的类型第14页
        1.3.3 能量释放率准则第14-15页
    1.4 国内外研究现状第15-16页
    1.5 本文的主要研究内容第16-18页
第2章 分子动力学基本原理第18-28页
    2.1 引言第18页
    2.2 分子动力学方法基本原理第18-20页
    2.3 常用势函数介绍第20-23页
    2.4 求解运动方程的常用算法第23-25页
    2.5 积分步长的选择第25-26页
    2.6 边界条件第26页
    2.7 统计系综第26-27页
        2.7.1 正则系综第26页
        2.7.2 微正则系综第26-27页
    2.8 本章小结第27-28页
第3章 硅晶体表面能的计算第28-36页
    3.1 硅的性质第28页
    3.2 硅的晶体结构第28-30页
    3.3 表面能的定义第30-31页
    3.4 硅晶体表面能的计算第31-35页
        3.4.1 硅晶体表面能的计算过程第31-32页
        3.4.2 计算结果与讨论第32-35页
    3.5 本章小结第35-36页
第4章 硅中裂纹在(111)和(110)面的扩展第36-51页
    4.1 计算模型的建立第36-38页
        4.1.1 (111)面的计算模型第37页
        4.1.2 (110)面的计算模型第37-38页
    4.2 (111)面裂纹扩展结果及讨论第38-45页
        4.2.1 加载速率对硅中裂纹扩展的影响第38-41页
        4.2.2 系统温度对硅中裂纹扩展的影响第41-45页
    4.3 (110)面裂纹扩展计算结果与讨论第45-48页
        4.3.1 加载速率对(110)硅中裂纹扩展的影响第45-48页
    4.4 裂纹在(111)和(110)面的裂纹扩展对比第48-50页
    4.5 本章小结第50-51页
第5章 硅中裂纹与位错的相互作用第51-68页
    5.1 位错基本理论第51-53页
        5.1.1 位错的概念第51-52页
        5.1.2 位错的分类第52页
        5.1.3 柏氏矢量第52-53页
    5.2 晶体硅中的部分位错第53-55页
        5.2.1 30°部分位错第54页
        5.2.2 90°部分位错第54-55页
    5.3 模型建立和计算参数设置第55-58页
    5.4 计算结果与讨论第58-66页
        5.4.1 裂纹与重构缺陷的相互作用第58-60页
        5.4.2 硅中裂纹与 30°部分位错的相互作用第60-63页
        5.4.3 硅中裂纹与 90°部分位错的相互作用第63-66页
    5.5 本章小结第66-68页
结论第68-70页
参考文献第70-75页
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果第75-76页
致谢第76页

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