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高速采样数据存储控制器的设计与实现

摘要第5-6页
abstract第6-7页
第一章 绪论第15-21页
    1.1 课题研究背景第15-18页
    1.2 国内外研究状况第18-19页
    1.3 课题研究意义第19-20页
    1.4 论文结构第20-21页
第二章 系统设计与DDR3原理分析第21-43页
    2.1 系统架构第21-22页
    2.2 器件选型第22-25页
    2.3 DDR3概述第25-26页
    2.4 DDR3新特性第26-32页
    2.5 DDR3工作原理及关键技术第32-42页
        2.5.1 DDR3 SDRAM的工作状态机第33-34页
        2.5.2 DDR3 SDRAM上电及初始化过程第34-35页
        2.5.3 DDR3命令分析第35-37页
        2.5.4 DDR3 SDRAM写均衡校准第37-39页
        2.5.5 DDR3 SDRAM读写时序第39-42页
    2.6 本章小结第42-43页
第三章 DDR3 SDRAM控制器设计第43-60页
    3.1 PHY Only设计方案第43-47页
        3.1.1 PHY Only设计方案可行性分析第44页
        3.1.2 PHY Only设计方案的特点第44-45页
        3.1.3 物理层接口信号第45-46页
        3.1.4 PHY Only设计第46-47页
    3.2 存储控制模块主状态机设计第47-48页
    3.3 物理层子模块设计第48-59页
        3.3.1 初始化模块设计第49-52页
        3.3.2 写数据通路模块设计第52-53页
        3.3.3 读数据通路同步模块设计第53-57页
        3.3.4 写均衡校准逻辑模块设计第57-58页
        3.3.5 读均衡逻辑模块设计第58页
        3.3.6 数据/选通/掩码I/O模块设计第58-59页
    3.4 本章小结第59-60页
第四章 控制器的逻辑仿真与性能分析第60-72页
    4.1 物理层子模块逻辑仿真及分析第60-65页
        4.1.1 初始化模块逻辑仿真第60-62页
        4.1.2 数据I/O模块逻辑仿真第62-64页
        4.1.3 读数据同步模块逻辑仿真第64-65页
    4.2 DDR3关键操作的逻辑仿真第65-68页
    4.3 控制器整体逻辑仿真第68-69页
    4.4 控制器性能分析第69-71页
    4.5 本章小结第71-72页
第五章 系统测试与分析第72-84页
    5.1 系统资源分析第72-73页
    5.2 硬件平台介绍第73-75页
    5.3 板级验证第75-83页
        5.3.1 系统调试方案第75-76页
        5.3.2 系统调试流程第76-79页
        5.3.3 测试结果第79-83页
    5.4 本章小结第83-84页
第六章 全文总结与展望第84-86页
    6.1 全文总结第84页
    6.2 后续工作展望第84-86页
致谢第86-87页
参考文献第87-90页
攻读硕士学位期间取得的成果第90-91页

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