致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7页 |
1 引言 | 第11-15页 |
1.1 研究背景 | 第11-12页 |
1.2 论文的研究内容 | 第12-13页 |
参考文献 | 第13-15页 |
2 文献综述 | 第15-57页 |
2.1 自组装单分子膜(Self-assembled monolayer,SAM) | 第15-39页 |
2.1.1 自组装单分子膜的概述 | 第15页 |
2.1.2 自组装单分子膜的主要种类 | 第15-21页 |
2.1.2.1 脂肪酸类自组装单分子膜 | 第16页 |
2.1.2.2 有机硫类自组装单分子膜 | 第16-19页 |
2.1.2.3 烷基类自组装单分子膜 | 第19-21页 |
2.1.2.4 有机硅烷类自组装单分子膜 | 第21页 |
2.1.3 有机硅烷类自组装单分子膜的生成机理 | 第21-24页 |
2.1.4 影响有机硅烷类自组装单分子膜生成的条件 | 第24-32页 |
2.1.4.1 反应温度对有机硅烷类自组装单分子膜的影响 | 第24-26页 |
2.1.4.2 反应时间对有机硅烷类自组装单分子膜的影响 | 第26-27页 |
2.1.4.3 反应溶液中的水含量对有机硅烷类自组装单分子膜的影响 | 第27-28页 |
2.1.4.4 溶剂对有机硅烷类自组装单分子膜的影响 | 第28-30页 |
2.1.4.5 基底表面状态对有机硅烷类自组装单分子膜的影响 | 第30-31页 |
2.1.4.6 碳链长度对有机硅烷类自组装单分子膜的影响 | 第31-32页 |
2.1.5 自组装单分子膜的性质与表征 | 第32-39页 |
2.1.5.1 膜厚 | 第32-34页 |
2.1.5.2 润湿性 | 第34-35页 |
2.1.5.3 均匀性和覆盖率 | 第35-36页 |
2.1.5.4 分子取向与有序度 | 第36-37页 |
2.1.5.5 表面化学组成 | 第37页 |
2.1.5.6 热力学和化学稳定性 | 第37-39页 |
2.1.5.7 表面电势 | 第39页 |
2.2 静电力显微镜(electrostatic force microscopy,EFM) | 第39-45页 |
2.2.1 EFM的发展史 | 第39-40页 |
2.2.2 EFM的原理 | 第40-45页 |
2.2.2.1 EFM工作过程 | 第40-41页 |
2.2.2.2 EFM工作原理 | 第41-45页 |
参考文献 | 第45-57页 |
3 反应温度对OTS SAM生长过程和内部结构影响的研究 | 第57-98页 |
3.1 研究背景 | 第57-73页 |
3.2 实验部分 | 第73-76页 |
3.2.1 实验药品及设备 | 第73页 |
3.2.2 样品制备 | 第73-74页 |
3.2.2.1 硅基底的预处理 | 第73-74页 |
3.2.2.2 SAM样品的制备 | 第74页 |
3.2.3 样品表面性质的表征 | 第74-76页 |
3.2.3.1 样品表面的接触角表征 | 第74页 |
3.2.3.2 样品表面形貌的AFM表征 | 第74-75页 |
3.2.3.3 样品表面电势的EFM表征 | 第75-76页 |
3.3 实验结果 | 第76-86页 |
3.3.1 不同反应温度下OTS SAM表面形貌的AFM测量结果 | 第76-79页 |
3.3.2 不同反应温度下OTS SAM表面电势的EFM测量结果 | 第79-86页 |
3.4 实验结果讨论 | 第86-91页 |
3.5 结论 | 第91-93页 |
参考文献 | 第93-98页 |
4 反应温度对OTS SAM表面电势影响的研究 | 第98-114页 |
4.1 研究背景 | 第98-104页 |
4.2 实验部分 | 第104-106页 |
4.2.1 表面电势的EFM表征 | 第104-105页 |
4.2.2 表面电势的数据处理 | 第105-106页 |
4.3 实验结果和分析 | 第106-109页 |
4.3.1 单组样品表面电势的分析 | 第106-107页 |
4.3.2 全部OTS SAM样品表面电势的统计分析 | 第107-109页 |
4.4 结论 | 第109-110页 |
参考文献 | 第110-114页 |
5 结论 | 第114-116页 |
6 自组装单分子膜实验存在的问题与展望 | 第116-123页 |
6.1 OTS-甲苯溶液的保存时间对SAM结构的影响 | 第116-119页 |
6.2 空气相对湿度对OTS SAM制备的影响 | 第119-123页 |
参考文献 | 第123页 |