| 摘要 | 第2-3页 |
| ABSTRACT | 第3页 |
| 1 前言 | 第10-13页 |
| 1.1 现状分析 | 第10-11页 |
| 1.2 本篇论文的实用价值 | 第11-12页 |
| 1.3 章节介绍 | 第12-13页 |
| 2 混合信号类器件测试项目及测试方法 | 第13-31页 |
| 2.1 集成电路ATE 测试介绍 | 第13-15页 |
| 2.2 混合信号类器件介绍 | 第15-16页 |
| 2.3 混合信号类器件数字测试介绍 | 第16-21页 |
| 2.3.1 Open-Short 测试 | 第16-17页 |
| 2.3.2 静态，动态电流测试 | 第17-19页 |
| 2.3.3 输入电流测试（IIL/IIH Test） | 第19-20页 |
| 2.3.4 高阻电流测试（IOZL/IOZH Test） | 第20页 |
| 2.3.5 功能测试（Functional Test） | 第20-21页 |
| 2.4 混合信号类器件混合信号测试介绍 | 第21-31页 |
| 2.4.1 采样和重建 | 第22-23页 |
| 2.4.2 DAC 静态参数测试 | 第23-25页 |
| 2.4.3 DAC 动态参数测试 | 第25-27页 |
| 2.4.4 ADC 静态参数测试 | 第27-29页 |
| 2.4.5 ADC 动态参数测试 | 第29-31页 |
| 3 ATE 分类和J750 平台特性分析 | 第31-39页 |
| 3.1 ATE 分类介绍 | 第31-33页 |
| 3.1.1 数字类 | 第31页 |
| 3.1.2 模拟类 | 第31-32页 |
| 3.1.3 存储器类 | 第32页 |
| 3.1.4 混合信号类 | 第32页 |
| 3.1.5 ATE 的选择 | 第32-33页 |
| 3.2 J750 使用现状及面临的挑战 | 第33-39页 |
| 3.2.1 消费类电子器件的测试需求 | 第33-34页 |
| 3.2.2 J750 体系结构和基本参数 | 第34-36页 |
| 3.2.3 J750 的软件开发体系 | 第36-37页 |
| 3.2.4 J750 使用现状和面临的挑战 | 第37-39页 |
| 4 混合信号类器件测试程序开发 | 第39-49页 |
| 4.1 被测器件介绍 | 第39-40页 |
| 4.2 测试需求 | 第40-42页 |
| 4.2.1 直流测试和数字逻辑测试 | 第40-41页 |
| 4.2.2 混合信号测试 | 第41-42页 |
| 4.3 测试程序开发 | 第42-49页 |
| 4.3.1 Open/Short 测试 | 第42页 |
| 4.3.2 高阻电流测试 | 第42页 |
| 4.3.3 静态电流（功耗）测试 | 第42-43页 |
| 4.3.4 RAM Bist，Scan 测试等所有DFT 测试 | 第43页 |
| 4.3.5 PLL 测试 | 第43-44页 |
| 4.3.6 视频数模转换器静态参数测试 | 第44-46页 |
| 4.3.7 音频数模转换器动态参数测试 | 第46-49页 |
| 5 新测试方案开发及应用 | 第49-59页 |
| 5.1 新测试方案开发研究方向 | 第49页 |
| 5.2 新测试方案开发 | 第49-54页 |
| 5.2.1 测试程序优化 | 第49-53页 |
| 5.2.2 模拟信号稳定性优化 | 第53-54页 |
| 5.3 测试经济性优化 | 第54-58页 |
| 5.3.1 多点测试介绍 | 第54页 |
| 5.3.2 多点测试在Lion 项目中的应用 | 第54-56页 |
| 5.3.3 测试板设计与多点测试的结合应用 | 第56-58页 |
| 5.4 新、旧测试方案在LION 项目中的对比分析 | 第58-59页 |
| 6 全文总结 | 第59-61页 |
| 6.1 全文总结 | 第59页 |
| 6.2 未来展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第64-67页 |
| 上海交通大学学位论文答辩决议书 | 第67页 |
