| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 背景简介 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第11-16页 |
| 1.2.1 Micro USB连接器发展现状及趋势 | 第11-12页 |
| 1.2.2 电连接器失效的研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.3 USB连接器检测试验方法的研究现状 | 第14页 |
| 1.2.4 电连接器可靠性与加速寿命试验的研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3 课题来源、研究内容、研究意义 | 第16-19页 |
| 1.3.1 课题来源 | 第16-17页 |
| 1.3.2 研究内容 | 第17-18页 |
| 1.3.3 研究意义 | 第18-19页 |
| 第二章 USB连接器烧蚀失效机理的研究 | 第19-44页 |
| 2.1 烧蚀失效USB的检测分析 | 第19-30页 |
| 2.1.1 烧蚀失效USB电气性能的复测 | 第19-21页 |
| 2.1.2 烧蚀失效USB显微形貌和成分检测 | 第21-30页 |
| 2.2 USB连接器烧蚀的故障树分析 | 第30-33页 |
| 2.2.1 故障树分析法的基本原理和作用 | 第30页 |
| 2.2.2 构建烧蚀失效故障树 | 第30-32页 |
| 2.2.3 故障树分析 | 第32-33页 |
| 2.3 USB烧蚀失效机理分析 | 第33-35页 |
| 2.3.1 VBUS端腐蚀物的生成机理分析 | 第33-34页 |
| 2.3.2 USB连接器烧蚀的原因分析 | 第34-35页 |
| 2.4 USB烧蚀故障复现及临界烧蚀条件的验证 | 第35-42页 |
| 2.4.1 实验方案设计 | 第35-37页 |
| 2.4.2 USB烧蚀临界值的验证 | 第37-40页 |
| 2.4.3 USB烧蚀复现结果 | 第40-42页 |
| 2.5 本章小结 | 第42-44页 |
| 第三章 USB烧蚀失效影响因素特性的实验研究 | 第44-59页 |
| 3.1 USB烧蚀失效影响因素特性的实验研究 | 第44-55页 |
| 3.1.1 温湿度对USB抗烧蚀性能影响的研究 | 第44-46页 |
| 3.1.2 电压应力对USB电气性能的影响研究 | 第46-49页 |
| 3.1.3 插拔磨损对USB电气性能的影响研究 | 第49-53页 |
| 3.1.4 可溶性盐污染对USB电气性能的影响研究 | 第53-55页 |
| 3.2 USB烧蚀失效影响因素的影响程度分析 | 第55-57页 |
| 3.2.1 实验方案的设计 | 第55-56页 |
| 3.2.2 实验结果与分析 | 第56-57页 |
| 3.3 本章小结 | 第57-59页 |
| 第四章 USB抗烧蚀性能检测方法的研究 | 第59-69页 |
| 4.1 USB镀层质量检测方法的研究 | 第59-63页 |
| 4.1.1 检测内容与方法 | 第59-60页 |
| 4.1.2 检测结果与分析 | 第60-63页 |
| 4.2 环境加速检测方法的研究 | 第63-68页 |
| 4.2.1 检测流程及方法 | 第63-65页 |
| 4.2.2 实验结果 | 第65-68页 |
| 4.2.3 实验结论 | 第68页 |
| 4.3 本章小结 | 第68-69页 |
| 第五章 USB抗烧蚀性能评估方法的研究 | 第69-79页 |
| 5.1 接触电阻分布的统计分析 | 第69-77页 |
| 5.1.1 常见的失效分布类型 | 第69-71页 |
| 5.1.2 数据分布类型的估计 | 第71-72页 |
| 5.1.3 数据分布类型的检验 | 第72-77页 |
| 5.1.4 可靠性特征值的拟合结果 | 第77页 |
| 5.2 评估方法的研究 | 第77-78页 |
| 5.2.1 烧蚀失效判别标准的确定 | 第77页 |
| 5.2.2 评估结果与评估方法分析 | 第77-78页 |
| 5.3 本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-82页 |
| 6.1 总结 | 第79-80页 |
| 6.2 展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第85页 |
