| 学位论文数据集 | 第3-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第15-23页 |
| 1.1 课题研究背景意义及目标 | 第15页 |
| 1.2 电路板激励优化技术的概述 | 第15-18页 |
| 1.2.1 电路板激励优化技术的发展现况 | 第15-17页 |
| 1.2.2 智能BIT测试技术发展现况 | 第17-18页 |
| 1.3 故障诊断技术的概述 | 第18-22页 |
| 1.3.1 故障特征量提取技术的发展现况 | 第19-20页 |
| 1.3.2 故障识别技术发展现况 | 第20-21页 |
| 1.3.3 基本常用测试诊断技术的优缺点 | 第21-22页 |
| 1.4 本文的研究内容 | 第22页 |
| 1.5 本文的创新点 | 第22-23页 |
| 第二章 AD转换器激励优化的方法研究 | 第23-31页 |
| 2.1 模数转换器常用测试激励信号 | 第23页 |
| 2.2 边界扫描测试生成算法 | 第23-25页 |
| 2.2.1 边界扫描测试技术 | 第23页 |
| 2.2.2 边界扫描测试生成算法的影响因素 | 第23-24页 |
| 2.2.3 常用边界扫面测试生成算法 | 第24-25页 |
| 2.3 二元域空间与平方可和离散序列空间 | 第25-26页 |
| 2.3.1 二元域空间 | 第25页 |
| 2.3.2 平方可和离散序列空间 | 第25-26页 |
| 2.4 AD转换器的故障模式 | 第26页 |
| 2.5 模数转换器固定逻辑0故障、固定逻辑1故障的故障模型 | 第26-27页 |
| 2.6 最大相异性模型方法 | 第27-29页 |
| 2.6.1 噪声及误差对模数转换器的影响 | 第27-28页 |
| 2.6.2 最大相异性模型方法 | 第28-29页 |
| 2.7 最大码距—一步自适应映射方法 | 第29-30页 |
| 2.8 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 AD转换器故障诊断的方法研究 | 第31-39页 |
| 3.1 模数转换器常用故障诊断方法 | 第31页 |
| 3.2 无噪声影响位与噪声影响位故障诊断方法 | 第31-33页 |
| 3.3 一阶原点距故障诊断方法 | 第33-35页 |
| 3.4 模数转换器故障诊断方法仿真结果 | 第35-37页 |
| 3.4.1 无噪声影响位故障诊断方法仿真结果 | 第35-36页 |
| 3.4.2 噪声影响位故障诊断方法仿真结果 | 第36-37页 |
| 3.4.3 一阶原点距故障诊断方法仿真结果 | 第37页 |
| 3.5 本章小结 | 第37-39页 |
| 第四章 电路板的故障诊断测试系统的开发 | 第39-61页 |
| 4.1 自动故障诊断系统 | 第39-40页 |
| 4.1.1 系统硬件结构 | 第39页 |
| 4.1.2 系统软件平台 | 第39-40页 |
| 4.2 模数混合电路板的测试与故障诊断 | 第40-46页 |
| 4.2.1 模数混合电路的测试故障诊断需求分析 | 第40-44页 |
| 4.2.2 适配板的设计 | 第44-46页 |
| 4.3 被测直流电源板的测试与故障诊断 | 第46-50页 |
| 4.3.1 电源板的测试故障诊断需求分析 | 第46-47页 |
| 4.3.2 适配板的设计 | 第47-50页 |
| 4.4 自动测试诊断TPS的开发与验证 | 第50-60页 |
| 4.4.1 模数混合电路板测试诊断TPS的编写 | 第50-54页 |
| 4.4.2 模数混合电路板故障测试诊断实验 | 第54-56页 |
| 4.4.3 电源板测试诊断TPS的编写 | 第56-58页 |
| 4.4.4 电源板测试诊断实验 | 第58-60页 |
| 4.5 本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 结论与展望 | 第61-63页 |
| 5.1 结论 | 第61页 |
| 5.2 展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 研究成果及发表的学术论文 | 第67-69页 |
| 作者与导师简介 | 第69-70页 |
| 附件 | 第70-71页 |