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共时双频数字预失真技术研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 绪论第9-14页
    1.1 课题研究背景与意义第9-10页
    1.2 共时双频预失真技术研究现状第10-12页
        1.2.1 共时双频数字预失真结构研究现状第10-11页
        1.2.2 共时双频数字预失真模型研究现状第11-12页
    1.3 本文的主要研究内容和章节安排第12-14页
第二章 共时双频数字预失真关键技术第14-30页
    2.1 数字预失真基本原理第14-15页
    2.2 双频非线性失真分类第15-16页
    2.3 2D-DPD结构第16-17页
    2.4 共时双频数字预失真行为模型第17-27页
        2.4.1 2D-DPD模型第17-18页
        2.4.2 低复杂度的2D-DPD模型第18-19页
        2.4.3 考虑I/Q不平衡的2D-DPD模型第19-20页
        2.4.4 2D-MMP模型第20-22页
        2.4.5 2D-Hammerstein/Wiener模型第22-24页
        2.4.6 2D-AH模型第24-25页
        2.4.7 2D-LUT模型第25页
        2.4.8 具有可变深度的2D-LUT模型第25-26页
        2.4.9 双输入双箱模型第26-27页
    2.5 双频行为模型准确度及预失真效果的评价指标第27-29页
    2.6 本章小结第29-30页
第三章 单上变频单元共时双频数字预失真结构第30-36页
    3.1 单上变频单元共时双频数字预失真结构框图第30-31页
    3.2 单上变频单元共时双频数字预失真结构的优缺点第31-35页
        3.2.1 结构复杂度对比第31-33页
        3.2.2 ADC与DAC的采样率对比第33-34页
        3.2.3 单上变频单元共时双频数字预失真结构的优缺点第34页
        3.2.4 单上变频单元共时双频数字预失真结构适用范围第34-35页
    3.3 本章小结第35-36页
第四章 DB-DDR模型和SDB-DDR模型建模及预失真第36-48页
    4.1 DDR模型简介第36-37页
    4.2 DB-DDR模型的提出第37-38页
    4.3 SDB-DDR模型的提出第38-39页
    4.4 DB-DDR模型和SDB-DDR模型系数的提取第39-40页
    4.5 模型计算复杂度比较第40-41页
    4.6 DB-DDR模型和SDB-DDR模型性能验证第41-47页
        4.6.1 GaN材质的F类功率放大器第43-45页
        4.6.2 GaN材质的Doherty功率放大器第45-47页
    4.7 本章小结第47-48页
第五章 DB-TLBMP模型建模及预失真第48-59页
    5.1 TLBMP模型简介第48-50页
    5.2 DB-TLBMP模型的提出第50-51页
    5.3 DB-TLBMP模型性能验证第51-57页
        5.3.1 DB-TLBMP模型和TLBMP模型测试平台第51-52页
        5.3.2 DB-TLBMP模型和TLBMP模型测试结果第52-57页
    5.4 本章小结第57-59页
第六章 论文总结与展望第59-61页
参考文献第61-65页
附录第65-68页
    附录1:2D-DPD模型推导第65-66页
    附录2:DB-DDR模型推导第66-68页
致谢第68-69页
攻读学位期间发表的学术论文目录第69页

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