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基于4H-SiC衬底选择性外延生长石墨烯

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
符号对照表第12-13页
缩略语对照表第13-16页
第一章 绪论第16-24页
    1.1 多维碳纳米材料第16-17页
    1.2 石墨烯的结构与电学性质第17-21页
        1.2.1 石墨烯的结构第17-18页
        1.2.2 石墨烯的电子能带结构第18-19页
        1.2.3 石墨烯纳米结构的电子性质第19-20页
        1.2.4 二维电子气特性第20-21页
    1.3 石墨烯材料的应用第21-22页
        1.3.1 石墨烯储能器件第21页
        1.3.2 石墨烯场效应晶体管第21-22页
        1.3.3 石墨烯光学器件第22页
    1.4 本文的主要研究内容第22-24页
第二章 石墨烯的制备工艺和相关表征技术第24-34页
    2.1 石墨烯的制备第24-27页
        2.1.1 微机械剥离法第24-25页
        2.1.2 氧化石墨-还原法第25页
        2.1.3 化学气相淀积法第25-27页
        2.1.4 碳化硅衬底外延石墨烯法第27页
    2.2 石墨烯的结构表征技术第27-31页
        2.2.1 扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy,STM)第27-29页
        2.2.2 原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)第29页
        2.2.3 拉曼光谱(Raman Spectroscopy)第29-31页
    2.3 本章小结第31-34页
第三章 外延生长石墨烯机理及衬底预处理第34-44页
    3.1 碳化硅外延石墨烯的生长机制第34-38页
        3.1.1 碳化硅的结构和性质第34-35页
        3.1.2 外延生长石墨烯机理第35-38页
    3.2 碳化硅衬底预处理第38-40页
        3.2.1 标准RCA清洗第38-39页
        3.2.2 氢刻蚀处理第39-40页
    3.3 工艺流程及版图第40-43页
    3.4 本章小结第43-44页
第四章 温度对外延生长的影响及石墨烯的表征第44-52页
    4.1 不同温度对石墨烯生长的影响第44-48页
        4.1.1 生长前的衬底处理第44-45页
        4.1.2 温度对外延石墨烯的影响第45页
        4.1.3 结构形貌分析第45-47页
        4.1.4 Raman光谱分析第47-48页
    4.2 石墨烯的电子输运性质第48-51页
        4.2.1 迁移率对器件性能的影响第49页
        4.2.2 表征石墨烯迁移率的电学结构[33]第49-51页
    4.3 本章小结第51-52页
第五章 结论和展望第52-56页
    5.1 研究结论第52-53页
    5.2 研究展望第53-56页
参考文献第56-60页
致谢第60-62页
作者简介第62-63页

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