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模拟I/O模块的通用VME总线校准系统设计

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第1章 绪论第9-17页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第9-10页
    1.2 国内外研究发展现状第10-15页
        1.2.1 校准技术国内外研究发展现状第10-13页
        1.2.2 模拟I/O模块国内外研究发展现状第13-14页
        1.2.3 VME总线技术现状分析第14-15页
    1.3 课题主要研究内容第15页
    1.4 论文结构第15-17页
第2章 校准系统总体方案设计第17-32页
    2.1 技术指标第17-18页
    2.2 需求分析第18-20页
    2.3 模拟I/O模块误差来源分析第20-22页
    2.4 校准模型和参数分析第22-25页
    2.5 硬件方案设计第25-28页
    2.6 软件方案设计第28-31页
        2.6.1 校准软件开发平台第28页
        2.6.2 校准软件设计思想第28-29页
        2.6.3 校准软件功能模块划分第29-31页
    2.7 本章小结第31-32页
第3章 校准系统硬件设计第32-40页
    3.1 校准载板硬件电路设计第32-33页
    3.2 校准载板逻辑设计第33-39页
        3.2.1 VME接口逻辑设计第34-36页
        3.2.2 M模块接口逻辑设计第36-38页
        3.2.3 本地总线接口逻辑设计第38-39页
    3.3 本章小结第39-40页
第4章 校准系统软件设计第40-59页
    4.1 模拟I/O模块类结构设计第40-41页
    4.2 校准软件静态模型设计第41-44页
    4.3 校准软件交互设计第44-45页
    4.4 校准界面设计第45-48页
    4.5 校准软件模块设计第48-58页
        4.5.1 仪器模块控制第48-51页
        4.5.2 原始数据采集线程设计第51-52页
        4.5.3 校准参数分析和处理线程设计第52-54页
        4.5.4 校准参数回写模块设计第54-55页
        4.5.5 校准结果显示模块设计第55-57页
        4.5.6 文件管理模块设计第57-58页
    4.6 本章小结第58-59页
第5章 校准系统功能验证与测试第59-73页
    5.1 校准系统测试方案第59-60页
    5.2 校准软件功能测试第60-64页
    5.3 模块校准测试第64-71页
        5.3.1 HITM401模块校准测试第65-67页
        5.3.2 HITM403模块校准测试第67-68页
        5.3.3 HITQ402模块校准测试第68-69页
        5.3.4 HITQ403模块校准测试第69-71页
    5.4 本章小结第71-73页
结论第73-74页
参考文献第74-78页
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果第78-80页
致谢第80页

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