| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-35页 |
| ·磁记录技术的发展历史 | 第10-13页 |
| ·磁记录的两种方式 | 第13-15页 |
| ·垂直磁记录介质 | 第15-22页 |
| ·软磁衬底层(SUL) | 第16-18页 |
| ·中间层(Intermediate layer) | 第18-21页 |
| ·记录介质层(Recording layer) | 第21-22页 |
| ·写磁头与读磁头 | 第22-25页 |
| ·垂直磁记录的未来 | 第25-30页 |
| ·L1_0相FePt合金薄膜 | 第25-27页 |
| ·软硬磁交换耦合介质 | 第27-28页 |
| ·热辅助磁记录 | 第28-30页 |
| 参考文献 | 第30-35页 |
| 第二章 微磁学 | 第35-51页 |
| ·微磁学的理论基础 | 第35-37页 |
| ·磁畴理论 | 第35页 |
| ·磁矩运动的微分方程 | 第35-37页 |
| ·微磁学理论 | 第37-43页 |
| ·微磁学单元的划分 | 第37页 |
| ·磁能量和有效场的计算 | 第37-42页 |
| ·LLG方程的数值求解 | 第42页 |
| ·微磁学的数值模拟方法 | 第42-43页 |
| ·磁滞回线的计算问题 | 第43-48页 |
| 参考文献 | 第48-51页 |
| 第三章 写磁头用FeCo薄膜的微磁学研究 | 第51-68页 |
| ·写磁头材料 | 第51-52页 |
| ·块状FeCo合金的性质 | 第52-56页 |
| ·与衬底有关的应力场的推导 | 第56-58页 |
| ·微磁学模型 | 第58-61页 |
| ·结果与讨论 | 第61-64页 |
| ·应力主项H_(ma)和应力交叉项H_(mb)对回线的影响 | 第61-62页 |
| ·晶界处的饱和磁化强度对回线的影响 | 第62-63页 |
| ·薄膜厚度对回线的影响 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 第四章 CoPt-TiO_2硬磁介质的微磁学研究 | 第68-81页 |
| ·样品的制备及实验测量结果 | 第69-71页 |
| ·不含微结构的简化微磁学模型 | 第71-73页 |
| ·含有微结构的微磁学模型 | 第73-75页 |
| ·软磁层的镜像效应 | 第75-76页 |
| ·结果与讨论 | 第76-79页 |
| ·模拟的磁滞回线 | 第76-77页 |
| ·磁化反转机制的研究 | 第77-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-81页 |
| 第五章 软硬磁交换耦合介质的微磁学研究 | 第81-100页 |
| ·模拟对象的结构和性质 | 第81-84页 |
| ·CoPt-TiO_2/Pt/Co-TiO_2薄膜的结构和性质 | 第81-83页 |
| ·CoPt-TiO_2/Co-TiO_2薄膜的结构和性质 | 第83-84页 |
| ·CoPt-TiO_2/Pt/Co-TiO_2薄膜的微磁学分析 | 第84-93页 |
| ·微磁学模型 | 第84-85页 |
| ·中间层Pt层的厚度对薄膜磁性的影响 | 第85-91页 |
| ·软磁层的各向异性场H_k~s和饱和磁化强度M_s~s对薄膜磁性的影响 | 第91-93页 |
| ·CoPt-TiO_2/Co-TiO_2薄膜的微磁学研究 | 第93-97页 |
| ·微磁学模型 | 第93-94页 |
| ·软磁层的厚度对介质磁性的影响 | 第94-96页 |
| ·软磁层的磁晶各向异性场H_k~s的影响 | 第96-97页 |
| ·本章小结 | 第97-99页 |
| 参考文献 | 第99-100页 |
| 第六章 结论 | 第100-102页 |
| 在学期间的研究成果 | 第102-103页 |
| 致谢 | 第103页 |
