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湿热老化对电子封装材料增韧用聚氨酯弹性体力学性能影响的研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-10页
第一章 绪论第10-20页
   ·电子封装概述第10-13页
     ·微电子技术的发展第10-11页
     ·电子封装的概念及作用第11-12页
     ·电子封装技术的发展第12-13页
   ·电子封装材料的发展第13-15页
     ·电子封装材料的分类第13页
     ·聚合物基电子封装材料第13-14页
     ·环氧树脂封装材料的增韧第14-15页
   ·湿热对电子封装的影响第15-18页
     ·湿热对电子封装可靠性的影响第15-16页
     ·湿热环境对电子封装材料的影响第16-17页
     ·研究现状第17-18页
   ·本文研究的内容和意义第18-20页
第二章 橡胶类材料的本构模型第20-26页
   ·橡胶类材料本构模型的形式第20-21页
   ·橡胶类材料的本构模型第21-24页
     ·Neo-Hookea本构模型第21页
     ·Mooney-Rivlin本构模型第21-22页
     ·Ogden应变能函数第22-23页
     ·Yeoh应变能函数第23页
     ·Gent热-弹性模型第23-24页
   ·本章小结第24-26页
第三章 湿热加速老化前后CPUR的力学性能对比分析第26-42页
   ·试验概述第26-31页
     ·材料的湿热加速老化第26-27页
     ·拉伸试件制备第27-28页
     ·单向拉伸试验第28-29页
     ·数据处理说明第29-31页
   ·四种CPUR湿热加速老化前后的力学性能对比分析第31-36页
     ·CPUR材料的原料及制备第31-32页
     ·四种CPUR材料的湿热加速老化第32页
     ·四种CPUR材料的拉伸试件第32页
     ·各个试件的厚度第32-33页
     ·单向拉伸试验第33页
     ·数据处理及分析第33-36页
   ·一种CPUR湿热加速老化前后的力学性能对比分析第36-41页
     ·CPUR材料的原料及制备第37页
     ·材料湿热加速老化第37页
     ·老化与未老化的CPUR材料的拉伸试件第37-38页
     ·各组有效试件的厚度第38页
     ·单向拉伸试验第38页
     ·试验结果及分析第38-41页
   ·本章小结第41-42页
第四章 湿热加速老化聚氨酯弹性体的本构模型第42-64页
   ·应变能函数的简化第42-44页
     ·单向拉伸时应变能函数的简化条件第42-43页
     ·Neo-Hookean应变能函数的简化第43页
     ·Mooney-Rivlin应变能函数的简化第43-44页
     ·Yeoh应变能函数的简化第44页
   ·参数拟合方法第44-45页
   ·应变能函数的参数拟合第45-58页
     ·Neo-Hookean应变能函数的参数拟合第45-49页
     ·Mooney-Rivlin应变能函数的参数拟合第49-53页
     ·Yeoh应变能函数的参数拟合第53-58页
   ·应变能函数的分段表达式第58-59页
   ·应变能函数与应力-应变关系的转化第59-62页
     ·应变能函数与应力-应变的转化关系第59-60页
     ·工程应力应变、真应力应变关于主伸长率的表达第60-62页
   ·本章小节第62-64页
第五章 全文总结与展望第64-66页
   ·全文总结第64-65页
   ·工作展望第65-66页
参考文献第66-70页
致谢第70-71页
攻读学位期间发表的学术论文第71页

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