XRF分析法测定不锈钢成分的方法技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-15页 |
| ·选题意义 | 第10-14页 |
| ·不锈钢的用途及分类 | 第10-11页 |
| ·分析不锈钢化学成分的方法分类 | 第11页 |
| ·XRF分析法 | 第11-12页 |
| ·XRF分析技术在不锈钢领域的国内外研究现状 | 第12-14页 |
| ·研究内容 | 第14页 |
| 本章小结 | 第14-15页 |
| 第2章 X射线分析技术的理论基础 | 第15-22页 |
| ·定性分析的物理基础 | 第15-17页 |
| ·莫塞莱定律 | 第15页 |
| ·X射线与物质的相互作用 | 第15-17页 |
| ·X射线荧光强度的定量计算 | 第17-21页 |
| ·一次荧光强度的计算 | 第17-19页 |
| ·二次荧光强度的计算 | 第19-20页 |
| ·三次荧光强度的计算 | 第20-21页 |
| 本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 定量分析的方法技术 | 第22-28页 |
| ·定量分析的基本方程 | 第22-24页 |
| ·基体效应校正模型 | 第24-26页 |
| ·基本参数法 | 第25页 |
| ·经验系数法 | 第25-26页 |
| ·理论影响系数法 | 第26页 |
| 本章小结 | 第26-28页 |
| 第4章 实验设备及其最佳条件的选择 | 第28-39页 |
| ·X射线探测器的效率与性能 | 第28-31页 |
| ·探测效率 | 第28页 |
| ·探测器的能量分辨率 | 第28-29页 |
| ·闪烁计数器 | 第29页 |
| ·正比计数器 | 第29-30页 |
| ·半导体探测器 | 第30-31页 |
| ·X射线探测器的选择 | 第31页 |
| ·X射线管 | 第31-36页 |
| ·X射线管的优点 | 第32-33页 |
| ·X光管最佳激发参数选择 | 第33-36页 |
| ·XRF分析仪的精确度评价 | 第36-38页 |
| ·最佳测量时间检验 | 第38页 |
| 本章小结 | 第38-39页 |
| 第5章 测试结果及讨论 | 第39-52页 |
| ·样品测量 | 第39-42页 |
| ·XRF分析仪能量刻度 | 第40页 |
| ·谱仪性能测试 | 第40-42页 |
| ·铬镍不锈钢样品的测量结果 | 第42页 |
| ·数据处理 | 第42-50页 |
| ·L-T-P方程的基体效应的校正模型 | 第42-43页 |
| ·L-T方程的基体效应的校正模型 | 第43-44页 |
| ·基本参数法的基体效应的校正模型 | 第44-46页 |
| ·线性回归法的校正结果 | 第46-50页 |
| ·误差分析 | 第50-51页 |
| 本章小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第57页 |
