摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
目录 | 第5-7页 |
第1章 引言 | 第7-11页 |
·课题的目的和意义 | 第7-8页 |
·国内外研究现状 | 第8-9页 |
·课题的主要研究内容 | 第9-10页 |
·课题取得的主要成果 | 第10-11页 |
第2章 快速傅立叶变换(FFT)与频谱分析 | 第11-27页 |
·离散傅立叶变换 | 第11-15页 |
·离散傅立叶级数(DFS) | 第11-13页 |
·离散傅立叶变换(DFT) | 第13-15页 |
·快速傅立叶变换(FFT)算法 | 第15-24页 |
·FFT算法的导出 | 第15-16页 |
·基2时选 FFT运算 | 第16-21页 |
·基2时选 FFT运算规律 | 第21-24页 |
·频谱与频谱分析 | 第24-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
第3章 研发平台的硬件设计 | 第27-33页 |
·研发平台的特点 | 第27-28页 |
·主要功能电路的设计 | 第28-29页 |
·ASIC模块设计 | 第28页 |
·DSP模块设计 | 第28-29页 |
·PCB的制作 | 第29-32页 |
·PCB制作简介 | 第29-30页 |
·PCB关键部分的制作 | 第30页 |
·完成后的PCB与研发平台实物 | 第30-32页 |
·本章小结 | 第32-33页 |
第4章 TMS320C5402实现频谱分析 | 第33-39页 |
·实数 FFT运算的实现方法 | 第33-36页 |
·运算溢出及避免方法 | 第34-35页 |
·实数 FFT的TMS320C5402的实现 | 第35-36页 |
·信号功率谱的实现 | 第36-37页 |
·利用 FFT实现频谱分析 | 第37-38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
第5章 实验调试与结果分析 | 第39-53页 |
·研发平台的硬件调试 | 第39-43页 |
·电源模块调试 | 第39页 |
·ASIC模块调试 | 第39-40页 |
·DSP模块调试 | 第40-42页 |
·MCU模块调试 | 第42页 |
·硬件调试结论 | 第42-43页 |
·DSP的软件调试 | 第43-52页 |
·TMS320C5402烧写 Flash实现并行自举引导 | 第43-48页 |
·Flash存储器的操作命令 | 第43-44页 |
·Flash存储器的操作检测 | 第44-45页 |
·C5402的自举引导 | 第45-48页 |
·TMS320C5402实现频谱分析 | 第48-52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
结论与建议 | 第53-55页 |
1. 结论 | 第53-54页 |
2. 建议 | 第54-55页 |
致谢 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-58页 |
发表论文情况 | 第58页 |