氧化钒非致冷红外探测器阵列读出电路结构研究
| 第1章 绪论 | 第1-12页 |
| ·非致冷红外焦平面阵列发展状况 | 第9-10页 |
| ·国外非致冷红外焦平面发展状况 | 第9页 |
| ·国内非致冷红外焦平面发展状况 | 第9-10页 |
| ·非致冷红外探测器的主要研究方向 | 第10页 |
| ·本文的主要工作 | 第10-12页 |
| 第2章 氧化钒热敏电阻微测辐射热计 | 第12-24页 |
| ·微测辐射热计的电学特性 | 第12-14页 |
| ·氧化钒红外微测辐热计工作原理 | 第14-17页 |
| ·无偏置情况下的热平衡过程 | 第16页 |
| ·施加偏置时的热平衡过程 | 第16-17页 |
| ·氧化钒微测辐射热计的基本结构 | 第17-18页 |
| ·氧化钒红外单元探测器的电压响应 | 第18-19页 |
| ·氧化钒热敏电阻特性分析 | 第19-23页 |
| ·氧化钒热敏电阻的PSPICE模型 | 第20-22页 |
| ·模拟结果及特性分析 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 红外焦平面阵列读出结构 | 第24-44页 |
| ·非致冷红外焦平面阵列概述 | 第24-26页 |
| ·热释电非致冷焦平面阵列 | 第24-25页 |
| ·微测辐射热计非致冷焦平面阵列 | 第25-26页 |
| ·两种焦平面阵列的比较 | 第26页 |
| ·红外焦平面阵列结构类型 | 第26-28页 |
| ·读出电路的性能要求 | 第28-30页 |
| ·读出电路类型 | 第30-32页 |
| ·电荷藕合器件 | 第30-31页 |
| ·MOS开关阵列 | 第31-32页 |
| ·探测器阵列读出结构 | 第32-43页 |
| ·三种读出结构 | 第32-33页 |
| ·噪声模型 | 第33-35页 |
| ·噪声分析 | 第35-37页 |
| ·自热效应 | 第37-38页 |
| ·优化 NETD | 第38-42页 |
| ·三种读出结构的分析比较 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 红外焦平面阵列噪声分析 | 第44-53页 |
| ·探测单元噪声 | 第44-46页 |
| ·读出电路噪声 | 第46-49页 |
| ·读出电路噪声处理 | 第49-52页 |
| ·相关双采样的工作原理 | 第49-51页 |
| ·相关双采样技术方法分析 | 第51-52页 |
| ·本章小节 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第59-60页 |
| 附录 | 第60页 |
