| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-16页 |
| ·国内外集成电路发展状况 | 第7-8页 |
| ·数字信号处理器的概念 | 第8-9页 |
| ·DSP与普通处理器的比较 | 第9-10页 |
| ·指令集的比较 | 第9-10页 |
| ·体系结构比较 | 第10页 |
| ·芯片设计中验证的概念和重要性 | 第10-13页 |
| ·验证的概念 | 第10-12页 |
| ·芯片设计中验证的重要性 | 第12-13页 |
| ·课题的来源、研究目的和意义 | 第13-14页 |
| ·课题的来源 | 第13页 |
| ·研究目的 | 第13页 |
| ·研究意义 | 第13-14页 |
| ·本文的结构和主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 验证方法学 | 第16-39页 |
| ·验证的概念和层次 | 第16-20页 |
| ·常用的验证方法 | 第20-26页 |
| ·按验证目的分类 | 第20-21页 |
| ·按照验证方法分类 | 第21-25页 |
| ·动态验证技术 | 第21-22页 |
| ·静态验证技术 | 第22-24页 |
| ·FPGA验证 | 第24-25页 |
| ·其他常用的验证方法 | 第25-26页 |
| ·硬件仿真 | 第25页 |
| ·软硬件协同验证 | 第25-26页 |
| ·模块IP的单独验证 | 第26-29页 |
| ·总线监视器 | 第28-29页 |
| ·监视器的工作原理 | 第28页 |
| ·总线监视器的设计 | 第28-29页 |
| ·系统级验证 | 第29-33页 |
| ·仅使用逻辑仿真器的方法 | 第30页 |
| ·使用ISS仿真器的方法 | 第30-31页 |
| ·使用ISS和Emulator的方法 | 第31-32页 |
| ·三种方法的比较 | 第32-33页 |
| ·测试矢量 | 第33-34页 |
| ·验证的可重用性 | 第34-36页 |
| ·重用的目标 | 第34页 |
| ·重用的层次 | 第34-35页 |
| ·验证平台的可重用性元件 | 第35-36页 |
| ·BFM和监视器 | 第35-36页 |
| ·系统任务 | 第36页 |
| ·验证脚本和工具 | 第36页 |
| ·验证效果的评估 | 第36-38页 |
| ·代码覆盖率的概念 | 第36-37页 |
| ·覆盖率与验证效果评估 | 第37-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第三章 Spock验证平台的设计 | 第39-58页 |
| ·Spock简介 | 第39-40页 |
| ·验证方案分析 | 第40-45页 |
| ·模块级验证 | 第45-46页 |
| ·顶层级验证 | 第46-57页 |
| ·随机指令生成器(SRAG) | 第47-48页 |
| ·ISS仿真器 | 第48-52页 |
| ·指令分析器(Instruction Analyzer) | 第52-53页 |
| ·用户界面 | 第53页 |
| ·Spock验证环境结构 | 第53-54页 |
| ·OGG音频解码程序 | 第54-55页 |
| ·测试矢量和测试结果 | 第55-56页 |
| ·Bugzilla | 第56-57页 |
| ·验证平台的可重用性和覆盖率分析 | 第57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第四章 集成仿真调试器的设计 | 第58-68页 |
| ·Spock调试系统简介 | 第58-59页 |
| ·调试接口的硬件设计 | 第59-63页 |
| ·Jtag调试接口 | 第59-60页 |
| ·TAP控制器 | 第60-61页 |
| ·HAD指令寄存器(HIR) | 第61页 |
| ·扫描链寄存器DSPSCR | 第61-62页 |
| ·进入调试模式的方法 | 第62-63页 |
| ·集成仿真调试器的设计 | 第63-66页 |
| ·模块结构 | 第63页 |
| ·主要功能和特点 | 第63-64页 |
| ·存储器读写的硬件加速 | 第64页 |
| ·调试过程中寄存器的读写 | 第64-66页 |
| ·调试器实验结果 | 第66页 |
| ·总结 | 第66-68页 |
| 第五章 总结与展望 | 第68-69页 |
| ·总结 | 第68页 |
| ·展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 附录 | 第73-75页 |
| 硕士期间发表和录用的论文 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76页 |