致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
目次 | 第7-9页 |
1 绪论 | 第9-20页 |
·引言 | 第9-10页 |
·基于矩阵的偏振光描述方式 | 第10-12页 |
·成像式偏振测量的应用及研究现状 | 第12-18页 |
·目标检测 | 第13页 |
·生物医学 | 第13-14页 |
·地物遥感 | 第14页 |
·大气和天文研究 | 第14-15页 |
·材料学、介质性质和表面性质研究 | 第15-16页 |
·计算机视觉 | 第16页 |
·军事应用 | 第16页 |
·偏振成像测量的发展趋势 | 第16-18页 |
·论文的主要内容与结构安排 | 第18-20页 |
2 成像式偏振测量方案 | 第20-35页 |
·基于单液晶和双CCD的全Stokes矢量成像测量 | 第20-29页 |
·液晶特性与装置结构 | 第20-21页 |
·调制方法的理论推导 | 第21-24页 |
·棱镜与双CCD的封装方法 | 第24-26页 |
·DSP软件流程及优化 | 第26-29页 |
·基于分立偏振元件的Stokes图像测量 | 第29-32页 |
·基于单液晶和双CCD的Mueller矩阵图像测量 | 第32-34页 |
·小结 | 第34-35页 |
3 偏振图像测量结果与应用分析 | 第35-49页 |
·偏振度图像 | 第35-40页 |
·偏振角图像 | 第40-42页 |
·椭圆率角图像 | 第42-44页 |
·去偏振图像 | 第44-45页 |
·偏振参数的非线性映射 | 第45-48页 |
·小结 | 第48-49页 |
4 成像式偏振测量装置定标和误差分析 | 第49-61页 |
·成像式偏振测量装置定标方法 | 第49-50页 |
·对线偏振光的定量测量 | 第50-51页 |
·对圆偏振光的定量测量 | 第51-53页 |
·测量误差来源分析 | 第53-59页 |
·系统封装固定时角度误差 | 第53-55页 |
·液晶调制器的相位调制误差 | 第55-57页 |
·偏振元件的非理想性 | 第57-58页 |
·CCD响应的线性度 | 第58-59页 |
·小结 | 第59-61页 |
5 总结与展望 | 第61-63页 |
·总结 | 第61页 |
·展望 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-70页 |
作者简历及在学期间所取得的科研成果 | 第70页 |