时序电路测试产生中一些关键技术的研究--及其在同步时序电路测试产生中的应用
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 序言 | 第9-15页 |
| ·故障模型 | 第9-13页 |
| ·测试产生 | 第13-14页 |
| ·小结 | 第14-15页 |
| 第二章 数字电路测试产生方法综述 | 第15-31页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·组合电路测试方法 | 第15-21页 |
| ·时序电路测试方法 | 第21-29页 |
| ·迭代组合逻辑阵列模型测试产生 | 第22-28页 |
| ·基于模拟的测试产生方法 | 第28-29页 |
| ·小结 | 第29-31页 |
| 第三章 时序电路大反馈线识别方法研究 | 第31-42页 |
| ·引言 | 第31页 |
| ·电路的有向图描述 | 第31-32页 |
| ·反馈线切割原则 | 第32-33页 |
| ·问题的提出与解决 | 第33-39页 |
| ·识别空间压缩策略 | 第34-35页 |
| ·节点权值编排策略 | 第35-38页 |
| ·节点编排优化策略 | 第38-39页 |
| ·反馈线识别算法 | 第39页 |
| ·反馈线识别的物理意义 | 第39-40页 |
| ·实验结果 | 第40页 |
| ·小结 | 第40-42页 |
| 第四章 时序电路测试中敏化路径选择问题研究 | 第42-50页 |
| ·引言 | 第42页 |
| ·时序电路敏化路径选择问题 | 第42-49页 |
| ·故障D前沿选择策略 | 第42-43页 |
| ·扩展敏化路径策略 | 第43-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第五章 同步时序电路逻辑初始化问题研究 | 第50-60页 |
| ·引言 | 第50-51页 |
| ·基于电路结构分析的初始化引导策略 | 第51-57页 |
| ·基本概念 | 第51-52页 |
| ·电路结构分析 | 第52-55页 |
| ·基于结构分析的初始化方法及实现 | 第55-57页 |
| ·实验结果 | 第57-58页 |
| ·小结 | 第58-60页 |
| 第六章 时序电路故障可测性分析 | 第60-72页 |
| ·引言 | 第60页 |
| ·基本概念 | 第60-61页 |
| ·时序电路不可测故障识别策略 | 第61-68页 |
| ·问题引出 | 第61页 |
| ·基于简化的可控性识别策略 | 第61-68页 |
| ·时序电路无效状态识别探析 | 第68-69页 |
| ·实验结果 | 第69-71页 |
| ·小结 | 第71-72页 |
| 第七章 基于模拟的时序电路测试方法及其实现 | 第72-89页 |
| ·引言 | 第72页 |
| ·电路预处理 | 第72-75页 |
| ·时序电路同时故障模拟方法改进策略 | 第75-80页 |
| ·基于模拟的测试产生策略 | 第80-86页 |
| ·实验结果 | 第86-88页 |
| ·小结 | 第88-89页 |
| 第八章 结束语 | 第89-91页 |
| 参考文献 | 第91-103页 |
| 作者简介 | 第103-104页 |
