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在Bi(0001)表面上红荧烯晶态膜生长的STM研究

摘要第1-3页
ABSTRACT第3-6页
第一章 引言第6-14页
   ·薄膜的制备方法第6-8页
     ·磁控溅射法第6-7页
     ·真空蒸发沉积法第7页
     ·分子束外延法第7-8页
     ·其他薄膜制备方法第8页
   ·薄膜研究的手段第8-11页
     ·X 射线衍射分析(XRD)第9页
     ·X 射线光电子能谱分析第9页
     ·拉曼光谱分析第9-10页
     ·扫描电子显微术第10页
     ·透射电子显微镜第10-11页
     ·其他表征手段第11页
   ·扫描隧道显微镜在材料研究中的优势第11-12页
   ·本课题研究背景和内容第12-14页
第二章 实验仪器原理第14-26页
   ·仪器组成第14-20页
     ·真空-低温-减震系统第14-16页
     ·样品制备系统第16-18页
     ·探针扫描系统第18页
     ·外围控制电路系统第18-20页
   ·STM 工作原理第20-26页
     ·量子隧道效应第20页
     ·隧道成像原理第20-21页
     ·STM 基本工作模式第21-23页
     ·STM 扫描参数优化第23-26页
第三章 STM 探针制备及红荧烯晶态薄膜的生长第26-46页
   ·STM 探针制备第26-35页
     ·电化学腐蚀原理第26-27页
     ·自动切断电路设计第27-30页
     ·直流液膜法制备纳米级STM 探针第30-35页
   ·红荧烯薄膜在 Bi(0001)表面公度-非公度相变第35-46页
     ·实验第36-39页
     ·结果与讨论第39-44页
     ·结论第44-46页
参考文献第46-49页
致谢第49-50页

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