| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-60页 |
| ·引言 | 第12页 |
| ·透明导电薄膜的物理基础 | 第12-20页 |
| ·TCO 薄膜的电学性质 | 第14-15页 |
| ·TCO 薄膜的光学性质 | 第15-20页 |
| ·TCO 薄膜的研究概况及应用 | 第20-31页 |
| ·n 型TCO 薄膜 | 第20-24页 |
| ·p 型TCO 薄膜 | 第24-29页 |
| ·TCO 薄膜的应用 | 第29-31页 |
| ·透明器件的研究进展 | 第31-39页 |
| ·透明p-n 结 | 第31-35页 |
| ·透明场效应晶体管（TFET） | 第35-39页 |
| ·钙钛矿结构及其异质结 | 第39-48页 |
| ·钙钛矿结构 | 第39-40页 |
| ·铁电异质结 | 第40-41页 |
| ·锰基异质p-n 结 | 第41-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-60页 |
| 第二章 样品的制备、表征和测试 | 第60-76页 |
| ·薄膜的制备 | 第60-61页 |
| ·脉冲激光沉积(PLD)介绍 | 第60-61页 |
| ·脉冲激光沉积特点 | 第61页 |
| ·薄膜的表征 | 第61-69页 |
| ·X 射线衍射（XRD） | 第61-64页 |
| ·扫描电子显微镜（SEM） | 第64-65页 |
| ·原子力显微镜（AFM） | 第65-67页 |
| ·X 射线光电子能谱（XPS） | 第67-69页 |
| ·薄膜的测试 | 第69-74页 |
| ·磁性测量系统(MPMS) | 第69-72页 |
| ·物理性质测量系统(PPMS) | 第72-74页 |
| ·本章小结 | 第74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 第三章 钙钛矿结构 Sb 和 Nd 掺杂 SrSnO_3薄膜电学和光学性质研究 | 第76-90页 |
| ·引言 | 第76-77页 |
| ·样品的制备和实验测量 | 第77-78页 |
| ·靶材的制备 | 第77页 |
| ·掺杂SrSnO_3 透明导电外延薄膜的制备和实验测量 | 第77-78页 |
| ·结果与讨论 | 第78-87页 |
| ·SSSO 和NSSO 外延薄膜的结构表征 | 第78-82页 |
| ·掺杂锡酸锶外延薄膜的电学性质 | 第82-84页 |
| ·掺杂锡酸锶外延薄膜的光学性质 | 第84-85页 |
| ·生长温度对掺杂锡酸锶外延薄膜的性质影响 | 第85-87页 |
| ·本章小结 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-90页 |
| 第四章 Sb 掺杂 BaSnO_3外延薄膜的电学和光学性质研究 | 第90-104页 |
| ·引言 | 第90页 |
| ·样品的制备和实验测量 | 第90-92页 |
| ·靶材的制备 | 第90-91页 |
| ·掺杂BaSnO_3 透明导电外延薄膜的制备和实验测量 | 第91-92页 |
| ·结果与讨论 | 第92-100页 |
| ·BSSO 外延薄膜的结构表征 | 第92-94页 |
| ·BSSO 外延薄膜的电学性质 | 第94-97页 |
| ·BSSO 外延薄膜的光学性质 | 第97-98页 |
| ·生长温度对BSSO 外延薄膜的性质影响 | 第98-100页 |
| ·本章小结 | 第100页 |
| 参考文献 | 第100-104页 |
| 第五章 锰酸盐-锡酸盐异质结的整流特性和磁电阻效应 | 第104-120页 |
| ·引言 | 第104-105页 |
| ·样品制备和测试表征 | 第105页 |
| ·结果与讨论 | 第105-115页 |
| ·结构为 n-LSSO/p-LCMO/NdGaO3(001)_o 的 p-n 结的整流和磁电阻特性 | 第105-110页 |
| ·结构为p-LCMO/i-SSO/n-LSSO/STO(001) p-i-n 结整流和磁电阻特性 | 第110-115页 |
| ·本章小结 | 第115页 |
| 参考文献 | 第115-120页 |
| 攻读博士学位期间的学术成果与获奖情况 | 第120-122页 |
| 致谢 | 第122页 |
