| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-37页 |
| ·课题来源及课题背景 | 第14-15页 |
| ·课题来源 | 第14页 |
| ·课题背景 | 第14-15页 |
| ·液晶显示器概述 | 第15-19页 |
| ·液晶显示器的发展历史及应用现状 | 第15-16页 |
| ·TFT-LCD 制程概述 | 第16-19页 |
| ·TFT-LCD 显示缺陷简介 | 第19-22页 |
| ·常见TFT-LCD 显示缺陷 | 第19-20页 |
| ·Mura 缺陷定义及种类 | 第20-21页 |
| ·Mura 缺陷产生原因分析 | 第21-22页 |
| ·LCD 制程中的缺陷检测技术 | 第22-26页 |
| ·视觉检测技术研究重点 | 第24页 |
| ·Mura 缺陷图像特点及检测难点 | 第24-26页 |
| ·视觉检测技术国内外研究现状 | 第26-34页 |
| ·纹理背景抑制 | 第27-29页 |
| ·图像亮度校正及增强 | 第29-31页 |
| ·缺陷分割方法 | 第31-33页 |
| ·缺陷量化方法 | 第33-34页 |
| ·课题的目的与意义 | 第34-35页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第35-37页 |
| 第二章 基于实值Gabor 小波滤波的TFT-LCD 纹理背景抑制 | 第37-52页 |
| ·引言 | 第37-38页 |
| ·TFT-LCD 图像纹理背景抑制 | 第38-43页 |
| ·奇异值分解法 | 第38-40页 |
| ·傅立叶变换法 | 第40-42页 |
| ·小波变换和Gabor 变换 | 第42-43页 |
| ·基于实值Gabor 小波滤波器的背景抑制 | 第43-51页 |
| ·实值Gabor 滤波原理 | 第44-46页 |
| ·实值Gabor 小波滤波器设计 | 第46-48页 |
| ·子图像融合方法 | 第48-49页 |
| ·实值Gabor 滤波仿真 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第三章 基于同态变换和独立分量分析的图像亮度校正 | 第52-70页 |
| ·引言 | 第52-53页 |
| ·LCD 图像亮度不均匀性分析 | 第53-55页 |
| ·LCD Mura 缺陷检测的图像亮度校正方法 | 第55-69页 |
| ·同态滤波原理 | 第55-57页 |
| ·独立分量分析原理 | 第57-60页 |
| ·基于同态变换和独立分量分析的LCD 图像亮度校正方法 | 第60-61页 |
| ·仿真实例 | 第61-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第四章 基于主动轮廓模型和水平集方法的Mura 缺陷分割 | 第70-94页 |
| ·引言 | 第70-71页 |
| ·主动轮廓模型 | 第71-76页 |
| ·基于边界的主动轮廓模型 | 第71-74页 |
| ·基于区域的主动轮廓模型 | 第74-76页 |
| ·水平集方法 | 第76-86页 |
| ·水平集方程 | 第76-79页 |
| ·水平集快速算法 | 第79-82页 |
| ·基于主动轮廓模型和水平集方法的图像边缘检测仿真 | 第82-86页 |
| ·针对Mura 缺陷的主动轮廓模型和水平集数值解法 | 第86-91页 |
| ·改进的Chan-Vese 模型 | 第87-89页 |
| ·AOS 水平集数值解 | 第89-91页 |
| ·基于SEMI 标准的缺陷量化方法 | 第91-92页 |
| ·本章小结 | 第92-94页 |
| 第五章 TFT-LCD Mura 缺陷检测实验研究 | 第94-124页 |
| ·引言 | 第94页 |
| ·TFT-LCD 缺陷检测硬件系统及实验样本 | 第94-96页 |
| ·实验硬件系统 | 第94-95页 |
| ·实验样本 | 第95-96页 |
| ·基于实值Gabor 滤波的LCD 图像背景抑制实验 | 第96-105页 |
| ·常用背景抑制方法比较 | 第96-97页 |
| ·Gabor 小波滤波器参数设计及比较实验 | 第97-103页 |
| ·背景抑制实验 | 第103-105页 |
| ·基于水平集方法的Mura 缺陷分割实验 | 第105-110页 |
| ·传统分割方法比较 | 第105-106页 |
| ·基于边界的主动轮廓模型分割实验 | 第106-107页 |
| ·改进的Chan-Vese 主动轮廓模型分割实验 | 第107-108页 |
| ·参数影响实验 | 第108-110页 |
| ·基于SEMI 标准的Mura 缺陷量化实验 | 第110-112页 |
| ·基于独立分量分析的LCD 图像亮度校正实验 | 第112-117页 |
| ·亮度不均匀校正实验 | 第112-116页 |
| ·亮度校正前后缺陷分割和量化效果比较 | 第116-117页 |
| ·TFT-LCD 自动Mura 缺陷检测流程及检测实验 | 第117-122页 |
| ·自动缺陷检测流程 | 第117-120页 |
| ·Mura 缺陷检测实验 | 第120-122页 |
| ·本章小结 | 第122-124页 |
| 第六章 总结与展望 | 第124-128页 |
| ·总结 | 第124-126页 |
| ·论文创新点 | 第126-127页 |
| ·研究展望 | 第127-128页 |
| 参考文献 | 第128-141页 |
| 攻读博士学位期间已发表或录用的论文 | 第141-142页 |
| 攻读博士学位期间参与的课题研究 | 第142-143页 |
| 致谢 | 第143页 |
