| 中文摘要 | 第1页 |
| 英文摘要 | 第3-6页 |
| 第一章 引言 | 第6-11页 |
| ·研究的背景及意义 | 第6页 |
| ·国内外浊度测量发展的现状 | 第6-9页 |
| ·国外浊度测量的发展现状 | 第6-8页 |
| ·国内浊度测量发展的现状 | 第8-9页 |
| ·本文研究的内容和方向 | 第9-11页 |
| 第二章 现有的测量方法及局限性 | 第11-22页 |
| ·浊度测量的相关知识 | 第11-13页 |
| ·浊度的定义 | 第11页 |
| ·浊度的单位 | 第11-13页 |
| ·浊度测量方法 | 第13-21页 |
| ·浊度测量基本原理 | 第13-15页 |
| ·透射法 | 第15-16页 |
| ·散射法 | 第16-17页 |
| ·样品表面散射光测定法 | 第17-18页 |
| ·样品内散射法 | 第18-20页 |
| ·透射光—散射光比较测定法 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 基于线阵CCD传感器垂直方向的散射光测量的方案 | 第22-35页 |
| ·概述 | 第22页 |
| ·浊度测量方法的选择 | 第22-23页 |
| ·线阵CCD传感器 | 第23-33页 |
| ·传统的硅光电池传感器 | 第24页 |
| ·CCD阵列 | 第24-30页 |
| ·CCD的特性参数 | 第30-32页 |
| ·CCD分类 | 第32-33页 |
| ·光源的选择及合理的光路设计 | 第33页 |
| ·总体设计方案及框图 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 CCD驱动电路的研究与设计 | 第35-45页 |
| ·所选CCD芯片驱动时序发生器原理 | 第35-36页 |
| ·线阵CCD1251 | 第35页 |
| ·TCD1251UD驱动时序分析 | 第35-36页 |
| ·几种传统驱动电路产生方法的优缺点 | 第36-37页 |
| ·CCD驱动时序的CPLD实现 | 第37-44页 |
| ·复杂可编程逻辑器件(CPLD)技术的优点 | 第37-38页 |
| ·可编程逻辑器件芯片的选用 | 第38页 |
| ·CPLD开发软件QuartusⅡ | 第38-40页 |
| ·CCD驱动时序的VHDL描述及仿真 | 第40-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 输出信号的处理 | 第45-50页 |
| ·CCD输出噪声成分分析 | 第45-46页 |
| ·CCD噪声处理方法 | 第46-47页 |
| ·数字相关双采样方法的实现 | 第47-49页 |
| ·相关双采样原理 | 第47-48页 |
| ·相关双采样数字方法的实现 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第六章 总结与展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第55页 |