仪器自检技术的研究和实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-14页 |
| ·课题研究的背景 | 第11-12页 |
| ·课题研究的意义 | 第12页 |
| ·本论文的主要工作 | 第12-14页 |
| 第2章 仪器的结构及自检概述 | 第14-22页 |
| ·仪器的典型结构 | 第14-16页 |
| ·仪器的硬件结构 | 第14-15页 |
| ·主机电路 | 第15页 |
| ·输入/输出通道 | 第15页 |
| ·人机接口 | 第15页 |
| ·通信接口 | 第15页 |
| ·仪器的软件结构 | 第15-16页 |
| ·现代仪器的主要特点 | 第16页 |
| ·自检概述 | 第16-17页 |
| ·自检的常用方法及存在的问题 | 第17-18页 |
| ·算法模型自检 | 第17页 |
| ·叠加信号自检 | 第17-18页 |
| ·周期性自检 | 第18页 |
| ·自检软件 | 第18-20页 |
| ·本章小结 | 第20-22页 |
| 第3章 仪器主机电路的自检设计及实现 | 第22-42页 |
| ·仪器主机电路概述 | 第22页 |
| ·微处理器指令系统的自检设计 | 第22-24页 |
| ·MC9S12XDT512 指令系统简介 | 第22-23页 |
| ·指令系统自检设计 | 第23-24页 |
| ·仪器存储器的自检设计及实现 | 第24-41页 |
| ·检错及纠错编码在存储器检测中的应用 | 第24-30页 |
| ·奇偶校验码的应用 | 第24-25页 |
| ·奇偶校验电路的应用 | 第25-26页 |
| ·海明码的应用 | 第26-30页 |
| ·仪器RAM 自检的常用方法及存在的问题 | 第30-35页 |
| ·固定模式自检 | 第31-32页 |
| ·游动模式自检 | 第32-33页 |
| ·数据图案平移自检 | 第33-35页 |
| ·谷/峰值自检 | 第35页 |
| ·仪器RAM 自检方法的改进 | 第35-37页 |
| ·扫描地址线法的设计思想 | 第35-36页 |
| ·设计实例 | 第36-37页 |
| ·扫描地址线法的优点 | 第37页 |
| ·仪器ROM 自检的常用方法及存在的问题 | 第37-39页 |
| ·奇校验位法 | 第37-38页 |
| ·双字节累加和法 | 第38-39页 |
| ·ROM 自检方法的改进 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 仪器输入/输出通道的自检设计及实现 | 第42-49页 |
| ·开关量输入/输出通道的自检设计 | 第42-43页 |
| ·多路模拟开关CD4051 的工作原理和应用电路 | 第42-43页 |
| ·自检设计 | 第43页 |
| ·模拟量输入/输出通道的自检设计 | 第43-47页 |
| ·模拟量输入通道的结构形式 | 第43-45页 |
| ·模拟量输出通道的结构形式 | 第45-47页 |
| ·一对一形式 | 第45-46页 |
| ·多对一形式 | 第46-47页 |
| ·自检设计 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第5章 自检技术在分析仪器中的设计实例 | 第49-69页 |
| ·分析仪器简介 | 第49-51页 |
| ·分析仪器自检设计思想 | 第51-53页 |
| ·自检项目概述 | 第53-56页 |
| ·DSP 外围器件自检 | 第53页 |
| ·核心器件自检项目列表 | 第53-56页 |
| ·自检设计 | 第56-69页 |
| ·上电自检主流程 | 第56-58页 |
| ·运行过程中自检主流程 | 第58页 |
| ·详细子流程设计 | 第58-69页 |
| ·DSP 外围器件自检设计 | 第58-59页 |
| ·X 光管自检设计 | 第59-61页 |
| ·Detector 自检设计 | 第61-65页 |
| ·步进电机自检设计 | 第65-66页 |
| ·防护盖板自检设计 | 第66-67页 |
| ·电池模块自检设计 | 第67页 |
| ·报警码表 | 第67-69页 |
| 第6章 总结与展望 | 第69-70页 |
| ·本文工作总结 | 第69页 |
| ·下一步工作展望 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 附录 | 第74-75页 |
| 详细摘要 | 第75-77页 |
