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Ge、Ga化合物氧化态的X射线吸收谱研究

中文摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第一章 绪论第10-35页
    1.1 引言第10页
    1.2 氧化数与价数第10-11页
    1.3 测试氧化态的实验方法第11-29页
        1.3.1 固体核磁(SSNMR)第12-15页
        1.3.2 穆斯堡尔谱(Mossbauer Spectroscopy)第15-17页
        1.3.3 X射线吸收谱(XAS)第17-25页
        1.3.4 X射线光电子能谱(XPS)第25-29页
    1.4 本文的研究意义第29-30页
    1.5 本文的研究内容第30页
    1.6 参考文献第30-35页
第二章 GeO_x纳米颗粒的电子结构及其在氢气条件下退火的稳定性第35-56页
    2.1 引言第35-37页
    2.2 样品制备过程和表征第37-38页
        2.2.1 样品制备过程第37-38页
        2.2.2 样品表征第38页
        2.2.3 XAS数据分析第38页
    2.3 结果与讨论第38-50页
        2.3.1 样品尺寸分析第38-39页
        2.3.2 XRD结果分析与讨论第39-40页
        2.3.3 XANES结果分析第40-46页
        2.3.4 EXAFS结果分析第46-50页
    2.4 结论第50-52页
    2.5 参考文献第52-56页
第三章 对于含有多个Ga中心的化合物中Ga的氧化态的研究第56-78页
    3.1 引言第56-59页
    3.2 样品制备过程和表征第59-61页
        3.2.1 样品制备过程第59-61页
        3.2.2 样品表征第61页
    3.3 结果与讨论第61-72页
    3.4 结论第72-74页
    3.5 参考文献第74-78页
第四章 对于GeNHCs中Ge的氧化态的研究第78-86页
    4.1 引言第78-80页
    4.2 样品制备过程和表征第80-82页
        4.2.1 样品制备过程第80-81页
        4.2.2 样品表征第81-82页
    4.3 结果与讨论第82-84页
    4.4 结论第84页
    4.5 参考文献第84-86页
第五章 本文总结与展望第86-88页
    5.1 本文总结第86-87页
    5.2 未来工作展望第87-88页
攻读学位期间本人出版或公开发表的论著、论文第88-89页
致谢第89-90页

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