| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-26页 |
| 1.1 微波介质陶瓷概述 | 第11-12页 |
| 1.2 微波介质陶瓷的基本性能参数 | 第12-14页 |
| 1.2.1 介电常数er | 第12-13页 |
| 1.2.2 品质因数Q | 第13页 |
| 1.2.3 谐振频率温度系数 τf | 第13-14页 |
| 1.2.4 混合物法则 | 第14页 |
| 1.3 微波介质陶瓷的合成方法 | 第14-17页 |
| 1.3.1 高温固相法 | 第15页 |
| 1.3.2 水热反应法 | 第15-16页 |
| 1.3.3 溶胶-凝胶法 | 第16-17页 |
| 1.3.4 低温燃烧法 | 第17页 |
| 1.3.5 微波合成法 | 第17页 |
| 1.4 微波介质陶瓷的低温烧结 | 第17-21页 |
| 1.4.1 添加烧结助剂 | 第18-19页 |
| 1.4.2 选用化学法合成 | 第19页 |
| 1.4.3 降低原料的初始粒度 | 第19-20页 |
| 1.4.4 采用新技术 | 第20-21页 |
| 1.5 低介微波陶瓷的研究体系 | 第21-24页 |
| 1.5.1 Al_2O_3-TiO_2系 | 第21页 |
| 1.5.2 硅酸盐系(Zn_2SiO_4, Mg_2SiO_4) | 第21-22页 |
| 1.5.3 A5B4O15系 | 第22-23页 |
| 1.5.4 Y2Ba Cu O5系 | 第23页 |
| 1.5.5 尖晶石系 | 第23-24页 |
| 1.6 课题的研究背景及内容 | 第24-26页 |
| 第二章 实验过程与测试方法 | 第26-37页 |
| 2.1 实验药品与试剂 | 第26页 |
| 2.2 实验设备与测试仪器 | 第26-28页 |
| 2.2.1 实验设备 | 第26-27页 |
| 2.2.2 测试仪器 | 第27-28页 |
| 2.3 水热法合成纳米粉体 | 第28-29页 |
| 2.3.1 实验流程 | 第28页 |
| 2.3.2 实验步骤 | 第28-29页 |
| 2.4 固相法合成陶瓷样品 | 第29-30页 |
| 2.4.1 实验流程 | 第29页 |
| 2.4.2 实验步骤 | 第29-30页 |
| 2.4.3 升温曲线 | 第30页 |
| 2.5 表征和测试方法 | 第30-37页 |
| 2.5.1 体积密度测试 | 第30-31页 |
| 2.5.2 线收缩率测试 | 第31页 |
| 2.5.3 X-射线衍射分析(XRD) | 第31-32页 |
| 2.5.4 红外光谱分析(FT-IR) | 第32-33页 |
| 2.5.5 拉曼光谱分析(Raman) | 第33页 |
| 2.5.6 X-射线光电子能谱分析(XPS) | 第33页 |
| 2.5.7 扫描电子显微镜分析(SEM) | 第33-34页 |
| 2.5.8 透射电子显微镜分析(TEM) | 第34页 |
| 2.5.9 微波介电性能测试 | 第34-37页 |
| 第三章 ZnGa_2O_4低介微波材料的水热合成及其介电性能研究 | 第37-57页 |
| 3.1 引言 | 第37页 |
| 3.2 实验过程 | 第37-38页 |
| 3.2.1 样品制备 | 第37-38页 |
| 3.2.2 测试表征 | 第38页 |
| 3.3 p H值对ZnGa_2O_4水热合成的影响 | 第38-40页 |
| 3.3.1 XRD分析 | 第38-39页 |
| 3.3.2 SEM分析 | 第39-40页 |
| 3.4 温度对ZnGa_2O_4水热合成的影响 | 第40-42页 |
| 3.4.1 XRD分析 | 第40-41页 |
| 3.4.2 SEM分析 | 第41-42页 |
| 3.5 时间对ZnGa_2O_4水热合成的影响 | 第42-44页 |
| 3.5.1 XRD分析 | 第42-44页 |
| 3.5.2 SEM分析 | 第44页 |
| 3.6 浓度对ZnGa_2O_4水热合成的影响 | 第44-46页 |
| 3.6.1 XRD分析 | 第44-45页 |
| 3.6.2 SEM分析 | 第45-46页 |
| 3.7 ZnGa_2O_4纳米粉体的其它表征 | 第46-48页 |
| 3.7.1 TEM、HRTEM、SEAD和FFT分析 | 第46-47页 |
| 3.7.2 XPS分析 | 第47-48页 |
| 3.8 ZnGa_2O_4纳米粉体的形貌改性 | 第48-50页 |
| 3.8.1 XRD分析 | 第48-49页 |
| 3.8.2 TEM分析 | 第49-50页 |
| 3.9 ZnGa_2O_4陶瓷的表征 | 第50-56页 |
| 3.9.1 XRD分析 | 第50-51页 |
| 3.9.2 SEM分析 | 第51-52页 |
| 3.9.3 FT-IR分析 | 第52-53页 |
| 3.9.4 微波介电性能分析 | 第53-56页 |
| 3.10 本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 ZnAl_2O_4系低介微波陶瓷材料的合成及其介电性能研究 | 第57-72页 |
| 4.1 引言 | 第57页 |
| 4.2 实验过程 | 第57-58页 |
| 4.2.1 样品制备 | 第57-58页 |
| 4.2.2 测试过程 | 第58页 |
| 4.3 不同种类助烧剂对ZnAl_2O_4陶瓷的掺杂效果比较 | 第58-61页 |
| 4.3.1 XRD分析 | 第58-59页 |
| 4.3.2 SEM分析 | 第59-60页 |
| 4.3.3 微波介电性能分析 | 第60-61页 |
| 4.4 2ZnO·3B_2O_3掺杂的ZnAl_2O_4陶瓷 | 第61-71页 |
| 4.4.1 XRD分析 | 第61-63页 |
| 4.4.2 TEM、HRTEM、SEAD和FFT分析 | 第63页 |
| 4.4.3 SEM和EDS分析 | 第63-66页 |
| 4.4.4 FT-IR和Raman分析 | 第66-68页 |
| 4.4.5 微波介电性能分析 | 第68-71页 |
| 4.5 本章小结 | 第71-72页 |
| 结论 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-84页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 附件 | 第86页 |
