摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第12-22页 |
1.1 引言 | 第12-13页 |
1.2 螺母凸焊概况及研究现状 | 第13-17页 |
1.2.1 凸焊工艺原理与特点 | 第13-15页 |
1.2.2 螺母凸焊的研究现状 | 第15-17页 |
1.3 电容储能焊概况及研究现状 | 第17-20页 |
1.3.1 电容储能焊原理与特点 | 第17-18页 |
1.3.2 电容储能焊的研究现状 | 第18-20页 |
1.4 课题来源、主要内容及技术路线 | 第20-22页 |
第二章 试验材料、设备及方法 | 第22-30页 |
2.1 试验材料 | 第22-24页 |
2.1.1 试验材料组织与性能 | 第22-23页 |
2.1.2 样品规格 | 第23-24页 |
2.2 电容储能焊设备 | 第24-27页 |
2.3 试验仪器与工具 | 第27-29页 |
2.3.1 螺母顶出力试验 | 第27页 |
2.3.2 硬度测试试验 | 第27-28页 |
2.3.3 熔核尺寸与微观组织试验 | 第28-29页 |
2.3.4 有限元分析软件 | 第29页 |
2.4 本章小结 | 第29-30页 |
第三章 焊接参数对接头力学性能与熔核尺寸的影响 | 第30-42页 |
3.1 焊接参数的确定 | 第30-31页 |
3.2 电极压力的影响 | 第31-35页 |
3.2.1 电极压力对接头力学性能与断裂模式的影响 | 第31-33页 |
3.2.2 电极压力对熔核尺寸的影响 | 第33-34页 |
3.2.3 不同电极压力下接头区域动态电阻的变化曲线 | 第34-35页 |
3.3 焊接电压的影响 | 第35-37页 |
3.3.1 焊接电压对接头力学性能与断裂模式的影响 | 第35-36页 |
3.3.2 焊接电压对熔核尺寸的影响 | 第36-37页 |
3.3.3 不同焊接电压下接头区域动态电阻的变化曲线 | 第37页 |
3.4 电容容量的影响 | 第37-40页 |
3.4.1 电容容量对接头力学性能与断裂模式的影响 | 第37-39页 |
3.4.2 电容容量对熔核尺寸的影响 | 第39页 |
3.4.3 不同电容容量下接头区域动态电阻的变化曲线 | 第39-40页 |
3.5 本章小结 | 第40-42页 |
第四章 螺母凸焊接头微观组织与断口形貌特征 | 第42-56页 |
4.1 焊接接头组织结构特点 | 第42-46页 |
4.2 焊接接头元素分布规律 | 第46-48页 |
4.3 焊接接头硬度分布规律 | 第48-49页 |
4.4 螺母凸焊接头断口形貌分析 | 第49-55页 |
4.4.1 断裂模式及其裂纹路径 | 第49-50页 |
4.4.2 界面断裂 | 第50-52页 |
4.4.3 部分熔核拔出断裂 | 第52-54页 |
4.4.4 完全熔核拔出断裂 | 第54-55页 |
4.5 本章小结 | 第55-56页 |
第五章 基于正交试验与遗传算法的焊接质量回归模型 | 第56-66页 |
5.1 正交试验 | 第56-58页 |
5.1.1 正交原理 | 第56-57页 |
5.1.2 正交试验设计及结果 | 第57-58页 |
5.2 遗传算法基本原理 | 第58-60页 |
5.3 建立非线性多元回归数学模型 | 第60-62页 |
5.4 基于遗传算法的回归模型求解与检验 | 第62-65页 |
5.5 本章小结 | 第65-66页 |
第六章 基于ANSYS的螺母凸焊熔核形成过程数值模拟 | 第66-78页 |
6.1 螺母凸焊过程及凸焊工艺的选取 | 第66-67页 |
6.2 预压阶段接触行为有限元分析 | 第67-72页 |
6.2.1 预压阶段有限元分析假设条件 | 第67页 |
6.2.2 预压阶段有限元理论及接触分析 | 第67-69页 |
6.2.3 几何模型、网格划分及边界条件 | 第69-70页 |
6.2.4 材料力学性能参数 | 第70-71页 |
6.2.5 螺母凸焊过程预压接触结果分析与讨论 | 第71-72页 |
6.3 通电阶段熔核形成过程有限元分析 | 第72-77页 |
6.3.1 通电阶段有限元分析假设条件 | 第72页 |
6.3.2 通电阶段基本控制方程 | 第72-74页 |
6.3.3 几何模型、网格划分及边界条件 | 第74页 |
6.3.4 材料热物理参数 | 第74-75页 |
6.3.5 接触电阻 | 第75-76页 |
6.3.6 螺母凸焊熔核形成过程温度场结果分析 | 第76-77页 |
6.4 本章小结 | 第77-78页 |
结论与展望 | 第78-81页 |
参考文献 | 第81-88页 |
攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第88-89页 |
致谢 | 第89-90页 |
附件 | 第90页 |