彩色印刷品缺陷检测方法研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-20页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 彩色印刷品的缺陷分类及检测中存在的问题 | 第9-11页 |
| 1.2.1 彩色印刷品缺陷的分类 | 第9-10页 |
| 1.2.2 缺陷检测中存在的主要问题 | 第10-11页 |
| 1.3 图像配准技术在印刷检测领域的研究现状 | 第11-12页 |
| 1.4 缺陷检测技术及系统在国内外的研究现状 | 第12-14页 |
| 1.4.1 国外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.4.2 国内研究现状 | 第13-14页 |
| 1.5 课题实验平台 | 第14-18页 |
| 1.5.1 线阵相机 | 第14-16页 |
| 1.5.2 图像采集卡 | 第16-17页 |
| 1.5.3 光电编码器及脉冲计数卡 | 第17-18页 |
| 1.6 课题研究的主要内容和结构安排 | 第18-20页 |
| 1.6.1 主要研究内容 | 第18-19页 |
| 1.6.2 论文的结构安排 | 第19-20页 |
| 第2章 基本理论介绍 | 第20-29页 |
| 2.1 图像配准的基础理论 | 第20-22页 |
| 2.1.1 图像的几何变换模型 | 第20-21页 |
| 2.1.2 图像配准概述 | 第21-22页 |
| 2.2 常用的边缘检测方法 | 第22-28页 |
| 2.2.1 各边缘检测算子描述 | 第22-26页 |
| 2.2.2 各边缘检测算子性能分析 | 第26-28页 |
| 2.3 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 基于模板匹配的彩色印刷品套印偏差检测 | 第29-39页 |
| 3.1 套印标识图像 | 第29-31页 |
| 3.2 套印偏差检测原理 | 第31-32页 |
| 3.3 基于改进模板匹配的套印偏差检测算法 | 第32-35页 |
| 3.3.1 套印标识图像的金字塔分解 | 第32-33页 |
| 3.3.2 加速终止策略 | 第33-35页 |
| 3.4 实验及结果分析 | 第35-38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 基于SIFT特征点的印刷品图像配准算法 | 第39-51页 |
| 4.1 SIFT算法的简介及特点 | 第39-40页 |
| 4.2 SIFT特征点提取过程 | 第40-46页 |
| 4.2.1 多尺度空间极值点检测 | 第41-42页 |
| 4.2.2 关键点精确定位 | 第42-44页 |
| 4.2.3 关键点方向分配 | 第44-45页 |
| 4.2.4 生成特征点描述子 | 第45-46页 |
| 4.3 SIFT算法的特征点匹配 | 第46-47页 |
| 4.4 SIFT算法的抗干扰能力分析 | 第47-49页 |
| 4.5 特征匹配实验及结果分析 | 第49-50页 |
| 4.6 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 印刷品缺陷区域提取技术研究 | 第51-66页 |
| 5.1 缺陷区域提取的基本思想 | 第51页 |
| 5.2 差影检测法 | 第51-52页 |
| 5.3 印刷品分割技术及缺陷提取 | 第52-63页 |
| 5.3.1 差分图像的获取 | 第53-56页 |
| 5.3.2 差分图像的二值化分割 | 第56-58页 |
| 5.3.3 形态学处理 | 第58-60页 |
| 5.3.4 缺陷分析 | 第60-63页 |
| 5.4 缺陷的判断及检测结果 | 第63-64页 |
| 5.5 本章小结 | 第64-66页 |
| 第6章 结论与展望 | 第66-68页 |
| 6.1 结论 | 第66页 |
| 6.2 展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第72页 |
