用于绝对距离测量的激光器调频技术的研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 引言 | 第8-9页 |
| 1.2 绝对距离测量方法研究现状 | 第9-12页 |
| 1.2.1 多波长干涉测量 | 第9-10页 |
| 1.2.2 脉冲飞行时间法测量 | 第10-11页 |
| 1.2.3 基于飞秒光学频率梳测距法 | 第11-12页 |
| 1.3 线性调频连续波干涉测量发展现状与应用前景 | 第12-13页 |
| 1.4 课题主要研究内容 | 第13-16页 |
| 2 线性调频激光干涉测量理论分析 | 第16-28页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 光的干涉理论和光拍现象 | 第16-20页 |
| 2.2.1 光的干涉现象 | 第16页 |
| 2.2.2 激光干涉测距 | 第16-20页 |
| 2.3 线性调频激光调制技术 | 第20-22页 |
| 2.4 线性调频激光干涉测量理论分析 | 第22-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 3 可见光小功率半导体激光器调频特性 | 第28-44页 |
| 3.1 引言 | 第28页 |
| 3.2 调频激光器参数要求 | 第28-29页 |
| 3.2.1 激光线宽 | 第28页 |
| 3.2.2 激光功率 | 第28-29页 |
| 3.3 650 nm半导体激光器调频方法 | 第29-32页 |
| 3.3.1 电流调谐 | 第29-30页 |
| 3.3.2 温度调谐 | 第30-31页 |
| 3.3.3 调频方式 | 第31-32页 |
| 3.4 650 nm半导体激光器静态调频特性研究 | 第32-39页 |
| 3.4.1 输出光功率-电流特性研究 | 第32-35页 |
| 3.4.2 输出光静态频率-电流特性研究 | 第35-37页 |
| 3.4.3 输出光波长-工作温度特性研究 | 第37-39页 |
| 3.5 半导体激光器线性调频电路的设计 | 第39-42页 |
| 3.6 本章小结 | 第42-44页 |
| 4 650nm半导体激光器调频测距实验研究 | 第44-66页 |
| 4.1 引言 | 第44页 |
| 4.2 线性调频干涉测距仿真实验 | 第44-48页 |
| 4.2.1 仿真模拟锯齿波线性调频信号 | 第44-45页 |
| 4.2.2 Simulink系统的仿真设计 | 第45-46页 |
| 4.2.3 仿真结果 | 第46-48页 |
| 4.3 调频参数对测距分辨力的影响 | 第48-50页 |
| 4.4 线性调频干涉测距实验 | 第50-53页 |
| 4.4.1 测距系统搭建 | 第50-51页 |
| 4.4.2 重复性测量 | 第51-53页 |
| 4.5 半导体激光器性能影响实验及分析 | 第53-64页 |
| 4.5.1 半导体激光器的光束准直实验分析 | 第53-55页 |
| 4.5.2 半导体激光器准直系统的设计与仿真 | 第55-57页 |
| 4.5.3 调频非线性的产生及影响 | 第57-61页 |
| 4.5.4 调频非线性补偿方法 | 第61-64页 |
| 4.6 本章小结 | 第64-66页 |
| 5 大功率红外半导体激光器调频测距实验研究 | 第66-74页 |
| 5.1 引言 | 第66页 |
| 5.2 980 nm半导体激光器基本参数 | 第66-67页 |
| 5.3 980 nm半导体激光器调频特性研究 | 第67-70页 |
| 5.3.1 电流-功率关系 | 第67页 |
| 5.3.2 980 nm半导体激光器调制电路设计 | 第67-70页 |
| 5.4 980 nm半导体激光器拍频距离范围实验 | 第70页 |
| 5.5 980 nm半导体激光器测距重复性实验 | 第70-71页 |
| 5.6 测距误差分析 | 第71-72页 |
| 5.7 本章小结 | 第72-74页 |
| 6 总结与展望 | 第74-76页 |
| 6.1 总结 | 第74-75页 |
| 6.2 展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-80页 |
