| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题的研究背景及目的和意义 | 第9-11页 |
| 1.1.1 课题的研究背景 | 第9-10页 |
| 1.1.2 课题的研究目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 贮存可靠性研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 加速贮存试验研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.3 基于性能退化数据寿命评估的研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 底层元器件贮存可靠性建模及寿命评估方法 | 第17-30页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 基于FMMEA的加速贮存试验设计方法 | 第17-19页 |
| 2.3 基于退化轨迹的退化失效建模及寿命评估方法 | 第19-24页 |
| 2.3.1 单参数加速退化数据的退化轨迹建模方法 | 第20-22页 |
| 2.3.2 退化轨迹拟合算法设计 | 第22-24页 |
| 2.4 基于随机过程的退化失效建模及寿命评估方法 | 第24-28页 |
| 2.4.1 Wiener过程建模方法及贮存可靠性评估步骤 | 第25-26页 |
| 2.4.2 Gamma过程建模方法及可靠性评估 | 第26-28页 |
| 2.5 退化建模方法比较分析 | 第28-29页 |
| 2.6 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 基于底层元器件退化模型的电子系统贮存可靠性评估方法 | 第30-42页 |
| 3.1 引言 | 第30-31页 |
| 3.2 改进FMMEA分析 | 第31-36页 |
| 3.2.1 改进FMMEA分析方法原理 | 第31-34页 |
| 3.2.2 竞争失效分析 | 第34-36页 |
| 3.3 FMMEA-FTA方法 | 第36-41页 |
| 3.3.1 基于FTA的故障事件动态发生概率预计方法 | 第36-39页 |
| 3.3.2 结合FTD与RBD的系统贮存可靠性评估方法 | 第39-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 电子系统贮存可靠性分析软件设计 | 第42-52页 |
| 4.1 引言 | 第42页 |
| 4.2 软件总体结构 | 第42-43页 |
| 4.3 底层元器件建模与模型管理 | 第43-47页 |
| 4.3.1 退化数据建模及元器件寿命评估单元 | 第44-46页 |
| 4.3.2 底层元器件贮存可靠性分析单元 | 第46-47页 |
| 4.4 FMMEA-FTA综合分析模块的开发 | 第47-51页 |
| 4.4.1 FMMEA及标准数据库管理 | 第48-49页 |
| 4.4.2 基于OpenFTA二次开发的系统动态发生概率分析单元 | 第49-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 某型继电器控制盒贮存可靠性分析实例 | 第52-67页 |
| 5.1 引言 | 第52页 |
| 5.2 继电器盒FMMEA分析 | 第52-54页 |
| 5.3 底层元器件性能退化建模 | 第54-61页 |
| 5.3.1 航天电磁继电器加速贮存试验 | 第54-55页 |
| 5.3.2 退化轨迹方法建模及预测分析 | 第55-59页 |
| 5.3.3 基于随机过程的退化建模及预测分析 | 第59-61页 |
| 5.4 基于FMMEA-FTA方法的系统可靠性评估 | 第61-64页 |
| 5.4.1 对某故障状态发生概率进行预计 | 第62-63页 |
| 5.4.2 继电器盒系统级可靠性评价 | 第63-64页 |
| 5.5 预测结果准确度分析 | 第64-66页 |
| 5.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 附录A | 第72-75页 |
| 附录B | 第75-76页 |
| 攻读学位期间发表的学术成果 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
