| 中文摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 课题背景 | 第9页 |
| 1.2 TDI 型图像传感器基本工作原理 | 第9-10页 |
| 1.3 TDI 型图像传感器发展现状 | 第10-11页 |
| 1.4 本文结构 | 第11-12页 |
| 第二章 CMOS-TDI 图像传感器架构分析 | 第12-23页 |
| 2.1 CMOS-TDI 图像传感器曝光方式分析 | 第12-19页 |
| 2.1.1 Global Shutter 曝光方式 | 第13-14页 |
| 2.1.2 Across-Track-Rolling 曝光方式 | 第14-16页 |
| 2.1.3 改进的 Across-Track-Rolling 曝光方式 | 第16-17页 |
| 2.1.4 Along-Track-Rolling 曝光方式 | 第17-18页 |
| 2.1.5 改进的 Along-Track-Rolling 曝光方式 | 第18-19页 |
| 2.1.6 各曝光方式指标对比 | 第19页 |
| 2.2 片内信号累加器分析 | 第19-21页 |
| 2.3 CMOS-TDI 图像传感器架构 | 第21-22页 |
| 2.4 小结 | 第22-23页 |
| 第三章 CMOS-TDI 图像传感器建模仿真 | 第23-31页 |
| 3.1 通过 MTF 函数评价 CMOS-TDI 图像传感器分辨率 | 第23-27页 |
| 3.1.1 MTF 函数定义 | 第23-25页 |
| 3.1.2 CMOS-TDI 图像传感器 MTF 函数计算 | 第25-27页 |
| 3.2 Along-Track-Rolling 曝光方式 Matlab 模拟 | 第27-30页 |
| 3.2.1 模拟被拍摄物体 | 第27-28页 |
| 3.2.2 曝光过程模拟 | 第28-29页 |
| 3.2.3 Matlab 模拟仿真结果 | 第29-30页 |
| 3.3 小结 | 第30-31页 |
| 第四章 模拟累加器设计 | 第31-57页 |
| 4.1 模拟累加器电路结构 | 第31-36页 |
| 4.1.1 运放有限增益对累加器输入失调电压消除效果的影响 | 第34-35页 |
| 4.1.2 电荷注入消除 | 第35-36页 |
| 4.1.3 晶体管亚阈值漏电对累加器精度影响 | 第36页 |
| 4.2 模拟累加器中运放设计 | 第36-41页 |
| 4.2.1 开关电容放大器建立精度分析 | 第36-39页 |
| 4.2.2 模拟累加器内部 OTA 设计 | 第39页 |
| 4.2.3 OTA 仿真结果 | 第39-41页 |
| 4.3 累加器控制时钟产生 | 第41-42页 |
| 4.4 累加器噪声分析 | 第42-50页 |
| 4.4.1 OTA 引入的噪声分析 | 第43-46页 |
| 4.4.2 kT/C 噪声分析 | 第46-48页 |
| 4.4.3 累加器总和等效输入噪声计算 | 第48-50页 |
| 4.5 累加器仿真结果 | 第50-52页 |
| 4.6 累加器版图设计 | 第52-53页 |
| 4.7 动态偏置电压缓冲器设计 | 第53-56页 |
| 4.8 小结 | 第56-57页 |
| 第五章 芯片级 CMOS-TDI 图像传感器中低功耗 DPGA 设计 | 第57-77页 |
| 5.1 运放共享 DPGA 结构 | 第57-59页 |
| 5.2 可编程电容阵列 C1优化 | 第59-62页 |
| 5.3 运放共享 DPGA 功耗优化 | 第62-72页 |
| 5.3.1 共享运放 GBW 均衡 | 第63-64页 |
| 5.3.2 运放设计 | 第64-70页 |
| 5.3.3 动态偏置电路设计 | 第70-72页 |
| 5.4 电荷注入消除 | 第72-73页 |
| 5.5 仿真结果 | 第73-75页 |
| 5.6 流片测试结果 | 第75-76页 |
| 5.7 小结 | 第76-77页 |
| 第六章 总结 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83页 |
