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片上网络的容错性设计、测试及粒度建模

目录第2-5页
主要英文缩略词表第5-6页
图表索引第6-8页
摘要第8-10页
Abstract第10-11页
第1章 绪论第12-20页
    1.1 片上网络NoC产生的背景第12-15页
        1.1.1 SoC的特点第12-13页
        1.1.2 SoC的不足第13-14页
        1.1.3 NoC的提出第14-15页
    1.2 NoC国内外的研究现状第15-16页
    1.3 片上网络容错和测试的必要性第16-17页
    1.4 考虑良率和使用寿命的NoC粒度建模第17-18页
    1.5 本文主要研究内容第18页
    1.6 本文组织结构安排第18-20页
第2章 NoC相关研究问题第20-33页
    2.1 网络拓扑结构第20-21页
    2.2 路由器结构第21-25页
        2.2.1 输入输出缓冲单元第22-23页
        2.2.2 路由计算第23-24页
        2.2.3 虚拟通道仲裁和输出通道分配第24-25页
        2.2.4 交换开关第25页
    2.3 包交换技术第25-26页
    2.4 NoC容错性设计第26-29页
        2.4.1 容错模型第27-28页
        2.4.2 容错路由算法第28-29页
    2.5 NoC测试第29-30页
    2.6 评价标准和服务质量第30-32页
    2.7 本文路由器结构第32-33页
第3章 片上网络容错模型和容错性路由算法第33-47页
    3.1 20通径路由器第33页
    3.2 容错模型第33-39页
        3.2.1 容错模型提出第33-36页
        3.2.2 边界、角落路由器处理第36-37页
        3.2.3 可用IP第37-39页
    3.3 路由算法第39-44页
        3.3.1 存储的路由信息第40页
        3.3.2 虚拟通道数据分配第40-42页
        3.3.3 容错性路由算法实现第42-44页
        3.3.4 免死锁和活锁第44页
    3.4 评估第44-47页
        3.4.1 容错能力第44-45页
        3.4.2 算法特性第45-47页
第4章 片上网络测试第47-58页
    4.1 常见模块测试方法第47-51页
        4.1.1 路由器间连线测试第47-48页
        4.1.2 路由器FIFO测试第48-49页
        4.1.3 路由器逻辑模块测试第49-50页
        4.1.4 路由器交换开关测试第50页
        4.1.5 路由器中连线测试第50-51页
    4.2 同一电路测试多模块第51-54页
        4.2.1 测试电路拓扑结构第51-52页
        4.2.2 控制器第52-53页
        4.2.3 卫星第53-54页
    4.3 测试方法及步骤第54-56页
        4.3.1 并行测试方法第54-55页
        4.3.2 测试步骤第55-56页
    4.4 测试比较第56-58页
第5章 芯片实现第58-63页
    5.1 路由器电路实现第58-59页
    5.2 测试电路实现第59-60页
    5.3 收发数据IP电路实现第60页
    5.4 10×102D-mesh NoC芯片实现第60-63页
第6章 NoC粒度建模第63-71页
    6.1 模型参数第63-64页
    6.2 NOC性能建模第64页
    6.3 多核处理器良品率建模第64-65页
    6.4 多核处理器时间稳定性建模第65-67页
    6.5 综合评估指标第67-69页
    6.6 实例分析第69-71页
第7章 总结与展望第71-73页
    7.1 总结第71-72页
    7.2 展望第72-73页
参考文献第73-78页
硕士学习期间录用和发表的学术论文第78-79页
致谢第79-80页

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