基于工作流的电子产品研发缺陷跟踪系统的研究与设计
摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-10页 |
第1章 绪论 | 第10-15页 |
·研究背景和意义 | 第10-11页 |
·国内外研究现状 | 第11-14页 |
·缺陷跟踪系统研究 | 第11-12页 |
·工作流技术的研究 | 第12-14页 |
·本课题的主要研究内容 | 第14-15页 |
第2章 工作流技术与企业流程再造 | 第15-22页 |
·工作流的基本概念 | 第15-19页 |
·工作流参考模型 | 第19-20页 |
·基于工作流技术的企业流程再造 | 第20-22页 |
第3章 国内电子产品研发缺陷管理的现状分析 | 第22-30页 |
·电子产品研发缺陷产生的原因 | 第22-24页 |
·缺陷的定义 | 第22-23页 |
·缺陷的来源 | 第23-24页 |
·电子产品研发缺陷的跟踪管理 | 第24-27页 |
·缺陷的发现手段 | 第24页 |
·缺陷的描述 | 第24-25页 |
·缺陷的等级划分 | 第25-26页 |
·缺陷的生命周期 | 第26-27页 |
·国内电子产品研发缺陷管理现状分析 | 第27-30页 |
·电子产品的研发特点及现状分析 | 第27-28页 |
·电子产品研发缺陷管理所存在的问题 | 第28-30页 |
第4章 电子产品研发缺陷跟踪流程的分析与设计 | 第30-38页 |
·流程方案规划 | 第30-31页 |
·优化改进方向 | 第30页 |
·解决方案规划 | 第30-31页 |
·流程的角色划分 | 第31-32页 |
·流程设计 | 第32-36页 |
·缺陷提交 | 第33-34页 |
·缺陷初审 | 第34页 |
·缺陷分析和修复 | 第34-35页 |
·缺陷修复结果验证 | 第35-36页 |
·流程执行的原则 | 第36-38页 |
·常规原则 | 第36页 |
·所有权原则 | 第36页 |
·重复缺陷原则 | 第36-37页 |
·关闭原则 | 第37页 |
·升级原则 | 第37-38页 |
第5章 电子产品研发缺陷跟踪系统的设计 | 第38-55页 |
·系统概述 | 第38页 |
·技术方案的选择 | 第38-41页 |
·系统架构设计 | 第41-43页 |
·系统开发及应用模式设计 | 第43-44页 |
·系统功能设计 | 第44-48页 |
·系统功能框架设计 | 第44-45页 |
·用户管理模块设计 | 第45页 |
·缺陷跟踪流程模块设计 | 第45-48页 |
·工作台模块设计 | 第48页 |
·缺陷查询模块设计 | 第48页 |
·数据库设计 | 第48-55页 |
·工作流引擎系统数据表结构分析 | 第48-49页 |
·业务数据与流程数据的关联方案设计 | 第49-51页 |
·业务数据表设计 | 第51-55页 |
第6章 电子产品研发缺陷跟踪系统的实现 | 第55-62页 |
·开发环境介绍 | 第55-56页 |
·工作台模块的实现 | 第56页 |
·缺陷跟踪流程的实现 | 第56-60页 |
·缺陷提交功能的实现 | 第57-59页 |
·缺陷初审功能的实现 | 第59页 |
·缺陷分析、修复功能的实现 | 第59-60页 |
·缺陷修复验证功能的实现 | 第60页 |
·用户管理模块的实现 | 第60-62页 |
总结与展望 | 第62-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-66页 |