频谱分析仪中YTO控制模块设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 相关技术研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第11页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 研究内容和目录安排 | 第12-14页 |
| 第二章 YTO本振控制理论 | 第14-25页 |
| 2.1 频谱分析仪的发展 | 第14-16页 |
| 2.1.1 传统频谱分析仪 | 第14页 |
| 2.1.2 现代频谱分析仪 | 第14-16页 |
| 2.2 频谱分析仪扫描本振的发展 | 第16-19页 |
| 2.2.1 频谱分析仪扫描本振相关参数 | 第16-17页 |
| 2.2.2 扫频本振的发展过程 | 第17-19页 |
| 2.3 YTO锁相环扫频本振 | 第19-24页 |
| 2.3.1 YTO工作特性分析 | 第19-20页 |
| 2.3.2 YTO锁相环电路基本原理 | 第20-23页 |
| 2.3.3 YTO锁相环扫频工作原理 | 第23-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 YTO控制模块实现目标与方案设计 | 第25-35页 |
| 3.1 YTO控制模块设计目标 | 第25页 |
| 3.2 YTO控制模块方案设计 | 第25-29页 |
| 3.2.1 频谱分析仪工作模式 | 第26-27页 |
| 3.2.2 YTO本振中FPGA工作状态 | 第27-28页 |
| 3.2.3 YTO驱动电路工作原理 | 第28-29页 |
| 3.3 YTO本振频率快速切换的方案设计 | 第29-32页 |
| 3.4 YTO本振扫描补偿模块的方案设计 | 第32-34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 YTO本振频率快速切换控制模块设计 | 第35-59页 |
| 4.1 YTO本振频率快速切换模块研究背景 | 第35-36页 |
| 4.2 YTO滤波电容的影响解决方案 | 第36-40页 |
| 4.2.1 滤波电容的影响 | 第36-38页 |
| 4.2.2 控制电路解决滤波电容的方案 | 第38页 |
| 4.2.3 控制电路解决滤波电容的电路设计与测试 | 第38-40页 |
| 4.3 YTO调谐线圈影响分析 | 第40-42页 |
| 4.4 YTO调谐线圈影响解决方案的研究 | 第42-49页 |
| 4.5 列表式扫描控制与研究 | 第49-54页 |
| 4.6 测试结果分析和测试平台展示 | 第54-58页 |
| 4.7 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 YTO本振扫描补偿模块设计 | 第59-75页 |
| 5.1 YTO本振扫描补偿原理分析和方案设计 | 第59-60页 |
| 5.2 YTO本振扫描频率偏差分析 | 第60-64页 |
| 5.3 YTO本振扫描频率偏差补偿研究 | 第64-69页 |
| 5.3.1 频率偏差与扫描参数关系的研究 | 第65-66页 |
| 5.3.2 偏差数据线性补偿的研究 | 第66-69页 |
| 5.4 预扫描方案的研究 | 第69-72页 |
| 5.4.1 预扫描频率范围的研究 | 第69-70页 |
| 5.4.2 预扫描方案中断同步的实现 | 第70-72页 |
| 5.5 计数时钟的实现 | 第72-73页 |
| 5.6 测试平台展示与测试结果分析 | 第73-74页 |
| 5.6.1 测试平台展示 | 第73-74页 |
| 5.6.2 测试结果及结果分析 | 第74页 |
| 5.7 本章小结 | 第74-75页 |
| 第六章 总结与展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
