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光电器件微/纳尺度热辐射特性与调控方法研究

摘要第5-7页
Abstract第7-9页
主要符号及单位表第16-18页
1 绪论第18-35页
    1.1 研究背景和意义第18-20页
    1.2 国内外研究现状第20-32页
        1.2.1 光电器件微/纳尺度热辐射特性调控机理研究现状第21-28页
        1.2.2 光电器件微/纳尺度热辐射特性应用研究现状第28-32页
    1.3 本文工作的主要内容第32-35页
2 光电器件微/纳尺度热辐射特性研究方法第35-51页
    2.1 麦克斯韦方程第35-37页
    2.2 材料光学特性第37-38页
    2.3 光电器件热辐射电磁传播特性第38-39页
    2.4 微/纳尺度光电器件热辐射特性数值计算方法第39-50页
        2.4.1 严格耦合波分析方法第40-45页
        2.4.2 时域有限差分方法第45-50页
    2.5 本章小结第50-51页
3 磁极化效应物理机理研究第51-65页
    3.1 引言第51-52页
    3.2 计算模型第52页
    3.3 MIM结构色散关系及MIM光栅结构等效LC回路模型第52-57页
        3.3.1 MIM结构色散关系第52-56页
        3.3.2 MIM光栅结构等效LC回路模型第56-57页
    3.4 计算结果与分析第57-64页
        3.4.1 Ag/SiO_2/Ag对称光栅结构的共振特性第57-58页
        3.4.2 SiO_2层厚度对Ag/SiO_2/Ag光栅结构共振特性的影响第58-60页
        3.4.3 金属带宽度对Ag/SiO_2/Ag光栅结构共振特性的影响第60-61页
        3.4.4 Ag/SiO_2/Ag非对称光栅结构的共振特性第61-64页
    3.5 本章小结第64-65页
4 等方性窄带辐射器热辐射特性研究第65-75页
    4.1 引言第65页
    4.2 窄带辐射器的理论模型第65-67页
    4.3 窄带辐射器辐光谱特性分析第67-74页
        4.3.1 计算方法验证第67-68页
        4.3.2 上部银光栅对窄带光谱特性的影响第68-70页
        4.3.3 掺杂硅光栅填充因子的影响第70-71页
        4.3.4 入射角的影响第71-73页
        4.3.5 光栅周期的影响第73页
        4.3.6 掺杂硅光栅深度的影响第73-74页
    4.4 本章小结第74-75页
5 等方性钙钛矿电池的设计方法研究第75-90页
    5.1 引言第75页
    5.2 钙钛矿电池工作原理第75-76页
    5.3 计算方法第76-78页
    5.4 计算模型及光电参数验证第78-79页
    5.5 计算结果与分析第79-88页
        5.5.1 钙钛矿电池结构表面的选择第79-81页
        5.5.2 钙钛矿电池结构周期的影响第81-83页
        5.5.3 SiO_2光栅厚度的影响第83-85页
        5.5.4 TiO_2光栅厚度的影响第85-86页
        5.5.5 钙钛矿电池结构表面的等方性吸收特征第86-88页
    5.6 本章小结第88-90页
6 光伏-热电系统的宽光谱等方性热辐射特性调控方法研究第90-104页
    6.1 引言第90-91页
    6.2 计算模型第91-94页
    6.3 计算结果与分析第94-102页
        6.3.1 理论模型验证第94-95页
        6.3.2 蛾眼结构与SiO_2 BARC的影响第95-98页
        6.3.3 蛾眼结构高度的影响第98页
        6.3.4 蛾眼结构周期的影响第98-100页
        6.3.5 入射角的影响第100-102页
    6.4 本章小结第102-104页
7 光伏-热电系统的宽光谱等方性热辐射特性控制实验研究第104-125页
    7.1 引言第104页
    7.2 单晶硅表面结构制备方法第104-108页
        7.2.1 PS球自组装模板第104-106页
        7.2.2 电感耦合等离子刻蚀第106-107页
        7.2.3 PS球掩模版的去除第107页
        7.2.4 碱液刻蚀第107页
        7.2.5 磁控溅射镀膜第107-108页
    7.3 刻蚀结果分析第108-116页
        7.3.1 PS球模板形貌分析第108页
        7.3.2 ICP刻蚀形貌分析第108-111页
        7.3.3 KOH溶液刻蚀形貌分析第111-115页
        7.3.4 磁控溅射镀膜第115-116页
    7.4 微结构表面光谱测试分析第116-123页
        7.4.1 测试方法第116-119页
        7.4.2 测试结果分析第119-123页
    7.5 本章小结第123-125页
8 结束语第125-129页
    8.1 主要研究结论第125-127页
    8.2 主要创新点第127页
    8.3 下一步研究设想第127-129页
致谢第129-130页
参考文献第130-148页
攻读博士学位期间已发表的相关论文第148-149页

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