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高电子迁移率晶体管的建模和优化

致谢第1-6页
中文摘要第6-7页
ABSTRACT第7-10页
第一章 引言第10-16页
   ·选题背景第10-12页
   ·AlGaN/GaN HEMT的发展历史及研究动态第12-15页
   ·本论文的研究工作及安排第15-16页
第二章 AlGaN/GaN HEMT的结构原理及仿真模型第16-30页
   ·AlGaN/GaN HEMT的结构原理第16-19页
   ·工艺仿真软件(TCAD)第19-20页
   ·物理方程第20-21页
     ·泊松方程第20页
     ·连续性方程第20-21页
   ·器件仿真模型第21-29页
   ·材料参数第29-30页
第三章 AlGaN/GaN Power HEMT仿真第30-41页
   ·工艺基础第30页
   ·器件结构第30-35页
     ·能带图第34页
     ·二维电子气电荷浓度第34-35页
   ·器件直流特性第35-39页
     ·漏电流第35-37页
     ·晶体管输出特性第37-39页
   ·小信号跨导第39-41页
第四章 器件优化第41-53页
   ·极化电荷密度第41-43页
   ·AlGaN表面的施主陷阱密度第43-45页
   ·接触电阻第45-47页
   ·AlGaN层厚度第47-49页
   ·源栅距离第49-51页
   ·优化结果第51-53页
第五章 结论与展望第53-55页
 1 结论第53-54页
 2 展望第54-55页
参考文献第55-58页
作者简历第58-60页
学位论文数据集第60页

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