| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-17页 |
| 1.2.1 国内外粉体堆积密度检测相关研究 | 第10-13页 |
| 1.2.2 国内外微电容检测相关研究 | 第13-17页 |
| 1.3 主要研究内容及章节安排 | 第17-19页 |
| 第二章 粉体堆积密度电容检测方法机理分析 | 第19-28页 |
| 2.1 粉体堆积密度电容检测方法概述 | 第19页 |
| 2.2 粉体堆积密度电容传感器结构模型 | 第19-24页 |
| 2.2.1 电容传感器选择 | 第19-22页 |
| 2.2.2 粉体堆积密度电容传感器结构模型构建 | 第22-24页 |
| 2.3 粉体堆积密度检测数学模型 | 第24-25页 |
| 2.4 粉体堆积密度检测影响因素分析 | 第25-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 粉体堆积密度电容传感器性能仿真与结构参数优选 | 第28-48页 |
| 3.1 传感器仿真性能 | 第28页 |
| 3.2 传感器性能仿真方法 | 第28-35页 |
| 3.2.1 有限元法及仿真软件简介 | 第28-29页 |
| 3.2.2 传感器有限元模型建立 | 第29-31页 |
| 3.2.3 传感器有限元模型求解 | 第31-34页 |
| 3.2.4 传感器有限元解后期处理 | 第34-35页 |
| 3.3 传感器性能仿真内容及方案 | 第35-37页 |
| 3.4 仿真结果分析与结构参数优选 | 第37-47页 |
| 3.4.1 屏蔽罩与径向电极有无对传感器性能影响仿真分析 | 第37-39页 |
| 3.4.2 电极极板张角对传感器性能影响仿真分析 | 第39-40页 |
| 3.4.3 屏蔽罩半径对传感器性能影响仿真分析 | 第40-41页 |
| 3.4.4 径向电极嵌入深度对传感器性能影响仿真分析 | 第41-43页 |
| 3.4.5 检测电极极板厚度对传感器性能影响仿真分析 | 第43-44页 |
| 3.4.6 螺旋轴叶片位置对传感器性能影响仿真分析 | 第44-47页 |
| 3.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 粉体堆积密度检测系统设计 | 第48-66页 |
| 4.1 粉体堆积密度检测系统总体设计 | 第48页 |
| 4.2 粉体堆积密度检测系统硬件设计 | 第48-55页 |
| 4.2.1 粉体堆积密度电容传感器设计 | 第48-49页 |
| 4.2.2 微电容检测模块设计 | 第49-52页 |
| 4.2.3 处理控制单元设计 | 第52页 |
| 4.2.4 液晶显示模块设计 | 第52-53页 |
| 4.2.5 电源模块设计 | 第53-55页 |
| 4.3 粉体堆积密度检测系统软件设计 | 第55-62页 |
| 4.3.1 软件开发环境简介 | 第55-56页 |
| 4.3.2 程序设计 | 第56-62页 |
| 4.4 粉体堆积密度检测系统软硬件调试 | 第62-65页 |
| 4.5 本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 粉体堆积密度检测试验研究 | 第66-73页 |
| 5.1 粉体堆积密度试验研究内容 | 第66-67页 |
| 5.2 粉体堆积密度电容传感器的标定试验 | 第67-69页 |
| 5.3 粉体堆积密度电容传感器输出性能试验 | 第69-71页 |
| 5.4 粉体堆积密度检测系统检测性能试验 | 第71-72页 |
| 5.5 本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 6.1 本文主要研究工作 | 第73-74页 |
| 6.2 工作展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 攻读硕士学位期间学术成果 | 第80页 |
