基于国产PLC的从站固件开发及CoE协议的应用研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRAC T | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-14页 |
| 缩略语 | 第14-19页 |
| 第一章 绪论 | 第19-23页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第19-20页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第20-21页 |
| 1.2.1 PLC发展概述 | 第20页 |
| 1.2.2 现场总线与工业以太网 | 第20-21页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第21-23页 |
| 第二章 CoE协议分析 | 第23-33页 |
| 2.1 CoE协议的组成 | 第23-25页 |
| 2.1.1 CoE数据帧结构 | 第23页 |
| 2.1.2 CANopen协议简介 | 第23-24页 |
| 2.1.3 EtherCAT协议简介 | 第24-25页 |
| 2.2 CoE对象字典 | 第25-27页 |
| 2.3 CoE周期性过程数据通信 | 第27-28页 |
| 2.3.1 EtherCAT三缓存模式通道控制 | 第27-28页 |
| 2.3.2 过程数据对象PDO | 第28页 |
| 2.4 CoE非周期性邮箱数据通信 | 第28-32页 |
| 2.4.1 EtherCAT单缓存模式通道控制 | 第29页 |
| 2.4.2 服务数据对象SDO | 第29-31页 |
| 2.4.3 紧急事件 | 第31-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 PLC从站系统介绍 | 第33-47页 |
| 3.1 PLC系统总体介绍 | 第33-36页 |
| 3.1.1 系统物理结构 | 第33-34页 |
| 3.1.2 系统逻辑结构 | 第34-36页 |
| 3.2 从站主要芯片选型 | 第36-41页 |
| 3.2.1 BM3105介绍 | 第36-39页 |
| 3.2.2 ESC介绍 | 第39-41页 |
| 3.3 从站硬件电路组件设计 | 第41-46页 |
| 3.3.1 电源电路 | 第41-42页 |
| 3.3.2 RS232电路及调试单元 | 第42-43页 |
| 3.3.3 存储器接口 | 第43-44页 |
| 3.3.4 A/D和D/A转换电路 | 第44-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 PLC从站软件设计与实现 | 第47-75页 |
| 4.1 从站驱动程序设计 | 第47-55页 |
| 4.1.1 从站驱动程序总体结构 | 第47-48页 |
| 4.1.2 数据访问接口 | 第48-49页 |
| 4.1.3 从站周期性数据的处理 | 第49-50页 |
| 4.1.4 从站非周期性事件的处理 | 第50-55页 |
| 4.2 CoE软件设计 | 第55-61页 |
| 4.2.1 对象字典数据结构设计 | 第55-57页 |
| 4.2.2 对象字典访问接口设计 | 第57-61页 |
| 4.3 数字量输入模块 | 第61-64页 |
| 4.3.1 模块框图 | 第61页 |
| 4.3.2 功能需求分析 | 第61-62页 |
| 4.3.3 软件设计 | 第62-64页 |
| 4.4 数字量输出模块 | 第64-67页 |
| 4.4.1 模块框图 | 第65页 |
| 4.4.2 功能需求分析 | 第65页 |
| 4.4.3 软件设计 | 第65-67页 |
| 4.5 模拟量输入模块 | 第67-70页 |
| 4.5.1 模块框图 | 第67页 |
| 4.5.2 功能需求分析 | 第67-68页 |
| 4.5.3 CRC校验的实现 | 第68页 |
| 4.5.4 软件设计 | 第68-70页 |
| 4.6 模拟量输出模块 | 第70-74页 |
| 4.6.1 模块框图 | 第70-71页 |
| 4.6.2 功能需求分析 | 第71页 |
| 4.6.3 校准算法的实现 | 第71-72页 |
| 4.6.4 软件设计 | 第72-74页 |
| 4.7 本章小结 | 第74-75页 |
| 第五章 测试与结果分析 | 第75-85页 |
| 5.1 通信功能验证 | 第75-77页 |
| 5.1.1 抓包物理连接 | 第75-76页 |
| 5.1.2 主站请求数据报 | 第76-77页 |
| 5.1.3 从站应答数据报 | 第77页 |
| 5.2 数字量模块测试 | 第77-79页 |
| 5.2.1 数字量测试原理 | 第78页 |
| 5.2.2 数字量逻辑功能验证 | 第78-79页 |
| 5.3 模拟量模块测试 | 第79-84页 |
| 5.3.1 紧急事件测试 | 第79-80页 |
| 5.3.2 用户校准接口测试 | 第80-81页 |
| 5.3.3 校准测试与分析 | 第81-84页 |
| 5.4 本章小结 | 第84-85页 |
| 第六章 总结与展望 | 第85-87页 |
| 6.1 工作总结 | 第85页 |
| 6.2 研究展望 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 致谢 | 第91-93页 |
| 作者简介 | 第93-94页 |
