| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 OFDM及COFDM技术 | 第9-10页 |
| 1.2 OFDM系统的抗衰落与抗干扰问题 | 第10-11页 |
| 1.3 COFDM中的差错控制编码 | 第11-12页 |
| 1.4 本文的主要工作与内容安排 | 第12-14页 |
| 2 LDPC-COFDM系统模型 | 第14-36页 |
| 2.1 抗频率选择性衰落和窄带干扰系统模型 | 第14-16页 |
| 2.2 OFDM调制解调 | 第16-17页 |
| 2.3 系统中的无线信道模型 | 第17-25页 |
| 2.3.1 频率选择性衰落 | 第17-20页 |
| 2.3.2 窄带干扰 | 第20-25页 |
| 2.4 COFDM系统中的LDPC码 | 第25-30页 |
| 2.4.1 LDPC码的编译码算法 | 第25-27页 |
| 2.4.2 LDPC码对不同差错类型的纠错能力 | 第27-30页 |
| 2.5 抗衰落和抗干扰的处理过程 | 第30-36页 |
| 2.5.1 发送端预处理 | 第30-33页 |
| 2.5.2 接收端逆映射 | 第33-36页 |
| 3 受影响子载波检测 | 第36-49页 |
| 3.1 受影响子载波检测概述 | 第36-38页 |
| 3.1.1 受频率选择性衰落影响的子载波检测 | 第36-37页 |
| 3.1.2 受窄带干扰影响的子载波检测 | 第37-38页 |
| 3.2 基于差错控制的受影响子载波检测 | 第38-42页 |
| 3.2.1 基于LDPC差错图样计算的子载波检测 | 第39页 |
| 3.2.2 基于LDPC译码的子载波检测 | 第39-41页 |
| 3.2.3 反馈帧的结构设计 | 第41-42页 |
| 3.3 AWGN影响下的系统性能稳定性问题 | 第42-44页 |
| 3.4 统计判决门限对系统性能影响及其选取 | 第44-49页 |
| 3.4.1 受影响子载波检测的性能仿真分析 | 第45-47页 |
| 3.4.2 统计判决门限选择 | 第47-49页 |
| 4 抗频率选择性衰落和窄带干扰的性能分析 | 第49-61页 |
| 4.1 仿真条件 | 第49-50页 |
| 4.2 频率选择性衰落信道中的系统仿真 | 第50-53页 |
| 4.2.1 频率选择性衰落对系统影响的仿真 | 第50-51页 |
| 4.2.2 LDPC-COFDM系统抗衰落的性能仿真分析 | 第51-53页 |
| 4.3 窄带干扰环境中的系统仿真研究 | 第53-59页 |
| 4.3.1 窄带干扰对系统影响的仿真 | 第53-57页 |
| 4.3.2 LDPC-COFDM系统抗干扰的性能仿真分析 | 第57-59页 |
| 4.4 系统仿真结论 | 第59-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |