| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-34页 |
| 1.1 稀土元素的结构特征及性能 | 第12-13页 |
| 1.1.1 稀土元素的电子层结构 | 第12页 |
| 1.1.2 稀土金属的晶体结构 | 第12页 |
| 1.1.3 稀土元素的化学性质 | 第12-13页 |
| 1.1.4 稀土元素的应用 | 第13页 |
| 1.2 稀土永磁材料概述 | 第13-15页 |
| 1.2.1 稀土永磁材料的发展 | 第14页 |
| 1.2.2 我国稀土永磁产业的发展及现状 | 第14-15页 |
| 1.3 烧结NdFeB永磁材料 | 第15-22页 |
| 1.3.1 烧结钕铁硼的制备 | 第15-16页 |
| 1.3.2 烧结钕铁硼制备工艺的研究进展 | 第16-18页 |
| 1.3.3 烧结钕铁硼的相组成 | 第18-20页 |
| 1.3.4 烧结钕铁硼的磁性能技术指标 | 第20-22页 |
| 1.4 烧结钕铁硼的腐蚀 | 第22-31页 |
| 1.4.1 烧结钕铁硼的腐蚀机理 | 第22-25页 |
| 1.4.2 影响烧结钕铁硼耐蚀性能的因素 | 第25-26页 |
| 1.4.3 提高烧结钕铁硼耐蚀性能的方法及其研究现状 | 第26-31页 |
| 1.5 本文研究意义及研究内容 | 第31-34页 |
| 1.5.1 研究意义 | 第31页 |
| 1.5.2 研究内容 | 第31-34页 |
| 第二章 实验方法 | 第34-42页 |
| 2.1 烧结钕铁硼的制备 | 第34-35页 |
| 2.2 测试样品的准备 | 第35页 |
| 2.3 性能检测及相关原理简介 | 第35-40页 |
| 2.3.1 磁性能检测 | 第35-36页 |
| 2.3.2 耐蚀性能检测 | 第36-38页 |
| 2.3.3 密度测量 | 第38-39页 |
| 2.3.4 氧含量的测量 | 第39-40页 |
| 2.4 显微组织观察 | 第40-41页 |
| 2.4.1 扫描电子显微镜及能谱分析 | 第40页 |
| 2.4.2 X射线衍射 | 第40-41页 |
| 2.5 成分测量技术 | 第41-42页 |
| 第三章 烧结钕铁硼在湿热条件下的腐蚀行为比较及机理分析 | 第42-54页 |
| 3.1 引言 | 第42页 |
| 3.2 磁体的化学成分 | 第42页 |
| 3.3 磁体的磁性能及密度 | 第42-43页 |
| 3.4 磁体在HAST中腐蚀后的表面形貌 | 第43-46页 |
| 3.5 磁体腐蚀前后的显微结构 | 第46-48页 |
| 3.6 磁体的氧含量 | 第48-49页 |
| 3.7 磁体腐蚀前及腐蚀后的物相分析 | 第49-51页 |
| 3.8 小结 | 第51-54页 |
| 第四章 烧结钕铁硼在中性盐雾中的腐蚀行为比较及机理分析 | 第54-66页 |
| 4.1 引言 | 第54页 |
| 4.2 磁体在中性盐雾中腐蚀后的腐蚀行为比较及相关机理 | 第54-57页 |
| 4.3 电镀Ni/Cu/Ni层磁体在盐雾中的腐蚀行为比较及机理 | 第57-59页 |
| 4.4 磁体在中性盐雾腐蚀前后的显微结构 | 第59-63页 |
| 4.5 磁体腐蚀前及腐蚀后的物相分析 | 第63-65页 |
| 4.6 小结 | 第65-66页 |
| 第五章 磁体在不同溶液中电化学腐蚀行为研究 | 第66-82页 |
| 5.1 引言 | 第66页 |
| 5.2 磁体在3.5%wtNaCl溶液中的腐蚀行为比较及机理分析 | 第66-71页 |
| 5.2.1 磁体在3.5%wt NaCl溶液中的极化曲线 | 第66-68页 |
| 5.2.2 磁体在3.5%wt NaCl溶液中的阻抗谱曲线曲线 | 第68-71页 |
| 5.3 磁体在自来水中的电化学腐蚀行为比较及机理研究 | 第71-73页 |
| 5.3.1 磁体在自来水中的极化曲线 | 第71-72页 |
| 5.3.2 磁体在自来水中的阻抗曲线 | 第72-73页 |
| 5.4 磁体在3.5%NaOH溶液中的电化学腐蚀行为比较及机理研究 | 第73-77页 |
| 5.4.1 磁体在3.5%NaOH溶液中的极化曲线 | 第73-75页 |
| 5.4.2 烧结钕铁硼在3.5%wtNaOH溶液中的阻抗谱曲线 | 第75-77页 |
| 5.5 含Ce磁体在不同溶液中的腐蚀行为比较 | 第77-79页 |
| 5.5.1 Ce磁体在不同溶液中的极化曲线比较 | 第77-79页 |
| 5.5.2 Ce磁体在不同溶液中的阻抗曲线比较 | 第79页 |
| 5.6 小结 | 第79-82页 |
| 第六章 结论 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-88页 |
| 致谢 | 第88页 |
