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BDI型红外焦平面读出电路的设计与实现

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第8-18页
    1.1 红外焦平面阵列研究现状第8-9页
    1.2 CMOS读出电路研究现状第9-16页
        1.2.1 CMOS读出电路框架及性能参数第9-11页
        1.2.2 CMOS读出电路分类第11-16页
    1.3 本论文主要工作第16-18页
        1.3.1 研究内容与设计指标第16-17页
        1.3.2 论文组织结构第17-18页
第二章 BDI型读出电路技术第18-28页
    2.1 BDI型像素单元电路结构第18-19页
    2.2 BDI像素单元电路分析第19-27页
        2.2.1 注入效率第19-21页
        2.2.2 动态范围第21-24页
        2.2.3 线性度第24-27页
    2.3 本章小结第27-28页
第三章 BDI型读出电路的设计第28-46页
    3.1 BDI型像素单元的设计与仿真第28-31页
        3.1.1 BDI型像素单元结构的优化设计第28-29页
        3.1.2 BDI型像素单元结构的仿真第29-31页
    3.2 列处理模块的设计与仿真第31-36页
        3.2.1 列处理模块的设计第31-34页
        3.2.2 列处理模块的仿真第34-36页
    3.3 输出缓冲器的设计与仿真第36-40页
        3.3.1 输出缓冲器的设计第36-38页
        3.3.2 输出缓冲器的仿真第38-40页
    3.4 整体电路设计与仿真第40-44页
    3.5 本章小结第44-46页
第四章 BDI型读出电路的版图设计第46-52页
    4.1 读出电路版图设计及流片工艺介绍第46-47页
    4.2 模块电路版图设计第47-49页
        4.2.1 像素单元的版图设计第48页
        4.2.2 列处理模块与输出缓冲器版图设计第48-49页
    4.3 整体电路版图设计第49-50页
    4.4 本章小结第50-52页
第五章 芯片测试与分析第52-58页
    5.1 测试方案第52-53页
    5.2 测试结果及分析第53-57页
        5.2.1 功耗测试结果及分析第53-54页
        5.2.2 输出摆幅测试结果及分析第54-55页
        5.2.3 线性度测试结果及分析第55-56页
        5.2.4 动态范围测试与结果分析第56页
        5.2.5 测试结果与仿真结果对比第56-57页
    5.3 本章小结第57-58页
第六章 总结与展望第58-60页
    6.1 本文工作总结第58页
    6.2 未来工作展望第58-60页
致谢第60-62页
参考文献第62-66页
作者简介第66页

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