BDI型红外焦平面读出电路的设计与实现
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 红外焦平面阵列研究现状 | 第8-9页 |
| 1.2 CMOS读出电路研究现状 | 第9-16页 |
| 1.2.1 CMOS读出电路框架及性能参数 | 第9-11页 |
| 1.2.2 CMOS读出电路分类 | 第11-16页 |
| 1.3 本论文主要工作 | 第16-18页 |
| 1.3.1 研究内容与设计指标 | 第16-17页 |
| 1.3.2 论文组织结构 | 第17-18页 |
| 第二章 BDI型读出电路技术 | 第18-28页 |
| 2.1 BDI型像素单元电路结构 | 第18-19页 |
| 2.2 BDI像素单元电路分析 | 第19-27页 |
| 2.2.1 注入效率 | 第19-21页 |
| 2.2.2 动态范围 | 第21-24页 |
| 2.2.3 线性度 | 第24-27页 |
| 2.3 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 BDI型读出电路的设计 | 第28-46页 |
| 3.1 BDI型像素单元的设计与仿真 | 第28-31页 |
| 3.1.1 BDI型像素单元结构的优化设计 | 第28-29页 |
| 3.1.2 BDI型像素单元结构的仿真 | 第29-31页 |
| 3.2 列处理模块的设计与仿真 | 第31-36页 |
| 3.2.1 列处理模块的设计 | 第31-34页 |
| 3.2.2 列处理模块的仿真 | 第34-36页 |
| 3.3 输出缓冲器的设计与仿真 | 第36-40页 |
| 3.3.1 输出缓冲器的设计 | 第36-38页 |
| 3.3.2 输出缓冲器的仿真 | 第38-40页 |
| 3.4 整体电路设计与仿真 | 第40-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 BDI型读出电路的版图设计 | 第46-52页 |
| 4.1 读出电路版图设计及流片工艺介绍 | 第46-47页 |
| 4.2 模块电路版图设计 | 第47-49页 |
| 4.2.1 像素单元的版图设计 | 第48页 |
| 4.2.2 列处理模块与输出缓冲器版图设计 | 第48-49页 |
| 4.3 整体电路版图设计 | 第49-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-52页 |
| 第五章 芯片测试与分析 | 第52-58页 |
| 5.1 测试方案 | 第52-53页 |
| 5.2 测试结果及分析 | 第53-57页 |
| 5.2.1 功耗测试结果及分析 | 第53-54页 |
| 5.2.2 输出摆幅测试结果及分析 | 第54-55页 |
| 5.2.3 线性度测试结果及分析 | 第55-56页 |
| 5.2.4 动态范围测试与结果分析 | 第56页 |
| 5.2.5 测试结果与仿真结果对比 | 第56-57页 |
| 5.3 本章小结 | 第57-58页 |
| 第六章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 6.1 本文工作总结 | 第58页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 作者简介 | 第66页 |
