基于模块化推扫式成像光谱仪的光谱校正与图像配准技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 1 引言 | 第10-24页 |
| ·成像光谱技术介绍 | 第10-19页 |
| ·成像光谱技术的原理和分类 | 第10-15页 |
| ·成像光谱技术的发展现状 | 第15-19页 |
| ·图像配准与拼接算法研究现状 | 第19-22页 |
| ·基于灰度的匹配方法 | 第20-21页 |
| ·基于特征的匹配方法 | 第21-22页 |
| ·基于混合模型的匹配方法 | 第22页 |
| ·主要研究内容和文章安排 | 第22-24页 |
| 2 系统方案设计 | 第24-39页 |
| ·系统指标与通道配置 | 第24-25页 |
| ·系统整体设计 | 第25-29页 |
| ·系统性能测试 | 第29-32页 |
| ·真空离焦量 | 第29页 |
| ·灵敏度与动态范围 | 第29-31页 |
| ·杂散光 | 第31-32页 |
| ·调制传递函数MTF | 第32页 |
| ·系统定标实验 | 第32-38页 |
| ·光谱定标 | 第32-36页 |
| ·辐射定标 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 3 光谱矫正相关技术研究 | 第39-57页 |
| ·近红外波段的干涉条纹现象 | 第39-43页 |
| ·干涉条纹产生 | 第39-42页 |
| ·干涉条纹仿真计算 | 第42-43页 |
| ·干涉条纹的矫正 | 第43-47页 |
| ·平场校正原理 | 第43-46页 |
| ·校正结果 | 第46-47页 |
| ·利用干涉条纹辅助光谱定位 | 第47-55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 4 亚像素级图像拼接相关技术研究 | 第57-90页 |
| ·遥感图像配准基础理论 | 第57-60页 |
| ·图像的几何变换 | 第57-59页 |
| ·几何校正的具体方法 | 第59-60页 |
| ·特征点匹配算法 | 第60-74页 |
| ·Harris特征点算法 | 第60-62页 |
| ·SIFT特征点算法 | 第62-68页 |
| ·ORB特征点算法 | 第68-70页 |
| ·实验结果与分析 | 第70-74页 |
| ·基于互相关的亚像素级拼接 | 第74-88页 |
| ·基于灰度的亚像素级拼接的理论基础 | 第74-77页 |
| ·PV插值算法的改进 | 第77-83页 |
| ·图像拼接实验 | 第83-87页 |
| ·图像融合实验 | 第87-88页 |
| ·本章小结 | 第88-90页 |
| 5 总结和展望 | 第90-93页 |
| ·工作总结 | 第90-91页 |
| ·展望 | 第91-93页 |
| 参考文献 | 第93-99页 |
