套后储层探测关键技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·研究背景与意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·套后储层探测技术 | 第9页 |
| ·过套管电阻率测井技术 | 第9-10页 |
| ·瞬变电磁法套后储层探测技术 | 第10-11页 |
| ·本文的研究内容和技术路线 | 第11-14页 |
| ·研究内容 | 第11-12页 |
| ·技术路线 | 第12-14页 |
| 第二章 套后储层探测系统原理与套管磁化技术研究 | 第14-25页 |
| ·套后储层探测系统原理 | 第14-19页 |
| ·套后储层探测模型 | 第15页 |
| ·基于瞬变电磁法的套后储层探测正演模型 | 第15-19页 |
| ·套管磁化技术研究 | 第19-24页 |
| ·套管磁导率对接收信号的影响 | 第19-20页 |
| ·铁磁介质磁化原理 | 第20-22页 |
| ·磁路分析和磁化方法研究 | 第22页 |
| ·磁化装置设计 | 第22-23页 |
| ·套管磁化效果 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 套后探测系统井下电路研制及稳定性研究 | 第25-37页 |
| ·套后储层探测系统的模块研制 | 第25-28页 |
| ·套后储层探测系统研制流程 | 第25页 |
| ·控制系统设计 | 第25-26页 |
| ·可控增益放大电路及积分电路研制 | 第26-27页 |
| ·信号耦合上传电路设计 | 第27-28页 |
| ·套后储层探测系统的稳定性研究 | 第28-35页 |
| ·磁探头稳定性研究 | 第29-30页 |
| ·发射模块稳定性研究 | 第30-31页 |
| ·前置放大电路稳定性研究 | 第31-32页 |
| ·分段衰减放大及积分电路稳定性研究 | 第32页 |
| ·DC-DC电源模块稳定性研究 | 第32-35页 |
| ·地面系统稳定性处理 | 第35页 |
| ·其他干扰的稳定性研究 | 第35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 影响探测性能因素分析及校准方法 | 第37-53页 |
| ·温度测量系统设计与校准方法 | 第37-41页 |
| ·温度测量系统硬件设计方法 | 第37-38页 |
| ·温度测量系统的校准方法研究 | 第38-41页 |
| ·深度测量系统设计与校准方法 | 第41-45页 |
| ·深度测量系统设计 | 第41-42页 |
| ·测量深度信号校准方法研究 | 第42-45页 |
| ·辅助较深系统设计 | 第45-49页 |
| ·自然伽玛测量系统硬件部分设计 | 第45-48页 |
| ·自然伽玛辅助校深研究 | 第48-49页 |
| ·刻度仪器探测性能研究 | 第49-51页 |
| ·瞬变电磁法视电阻率刻度方法 | 第49-50页 |
| ·基于分段积分的套后储层探测仪刻度方法 | 第50-51页 |
| ·总结 | 第51-53页 |
| 第五章 试验技术研究 | 第53-68页 |
| ·室内试验方法总结 | 第53-56页 |
| ·套管外介质的识别能力试验 | 第53-54页 |
| ·仪器水平探测距离试验 | 第54-55页 |
| ·压力和温度性能试验 | 第55-56页 |
| ·室外试验研究方法 | 第56-67页 |
| ·试验背景情况 | 第56-57页 |
| ·现场试验分析 | 第57-67页 |
| ·总结 | 第67-68页 |
| 第六章 总结与展望 | 第68-70页 |
| ·主要完成的工作 | 第68-69页 |
| ·工作展望 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第75-76页 |
